21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被(bei)稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可(ke)穿戴設備等領(ling)域(yu)，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)具有(you)能(neng)量密度高(gao)、電(dian)(dian)(dian)壓高(gao)、壽(shou)命(ming)長、無記憶效應(ying)等優(you)點，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)是容易因短路、過充等原因燒毀或爆炸，所以(yi)很危險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測試是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)制(zhi)造和組(zu)裝的重要(yao)環節，是實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)性(xing)能(neng)和安(an)全(quan)靠譜(pu)使用的有(you)力保障(zhang)。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測試項目主要(yao)包括一致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安(an)全(quan)性(xing)、可(ke)靠性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通(tong)過比較兩者的優缺點，我們(men)可以更(geng)直(zhi)觀地區分哪一個(ge)更(geng)符合(he)要求3C鋰(li)電池測(ce)試要求。

　　從目(mu)前(qian)的(de)市(shi)場趨勢(shi)來看，3C電子(zi)產品內(nei)部空間集成度高(gao)，pitch不斷縮小，pogopin探針模組(zu)在小pitch該領域適(shi)應性差，只能(neng)處(chu)理0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽命(ming)和穩(wen)定性差。3C鋰(li)電池(chi)測試對電流的(de)需求很大，pogopin探針模塊(kuai)能(neng)承載(zai)的(de)額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會(hui)在不同位衰減(jian)，導致連接不穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)(wei)針模組無(wu)論是面(mian)對(dui)小間距(ju)還是大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流，都(dou)有很(hen)好的應對(dui)方法(fa)。在(zai)小pitch在(zai)該領域，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)(wei)針模塊(kuai)是可(ke)(ke)取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩定(ding)可(ke)(ke)靠。面(mian)對(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流測試(shi)要(yao)求，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)(wei)針模塊(kuai)可(ke)(ke)通過的額定(ding)電(dian)(dian)(dian)流大(da)(da)到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)流衰減，具有良好的連接功能(neng)，可(ke)(ke)以很(hen)大(da)(da)限(xian)度(du)地保障3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測試(shi)的穩定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽(shou)(shou)命而言，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊的(de)試驗(yan)壽(shou)(shou)命在于5w大(da)電流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)(zu)的(de)試驗(yan)壽(shou)(shou)命約為20w以上，比較pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊整整多了四(si)倍!況且pogo pin探(tan)針(zhen)模(mo)塊為多組(zu)(zu)件結構，生(sheng)產工藝(yi)復雜(za)，生(sheng)產難(nan)度高，交(jiao)(jiao)貨期(qi)長;大(da)電流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)(zu)是一種集成(cheng)彈片結構，輕、扁(bian)平，可根據客戶要求定(ding)制，生(sheng)產難(nan)度低，交(jiao)(jiao)貨期(qi)短。相(xiang)比之下，通大(da)電流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)(zu)的(de)成(cheng)本(ben)性(xing)能并(bing)不太高!

　　對比母(mu)座測試良(liang)(liang)率(lv)，pogopin針(zhen)(zhen)對探針(zhen)(zhen)模塊BTB連接器(qi)母(mu)座幾乎(hu)無法實(shi)現，穩定(ding)性(xing)極(ji)差(cha)。大部分采用觸摸(mo)方(fang)案對應，母(mu)座測試良(liang)(liang)率(lv)不到80%;母(mu)座上(shang)有一(yi)種特別的通大電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)(zhen)模組對應方(fang)法。將斜口(kou)型(xing)(也稱尖頭(tou)型(xing))彈(dan)片(pian)頭(tou)插入連接器(qi)內端子(zi)，以(yi)保持(chi)一(yi)定(ding)的開度，從而保障彈(dan)片(pian)的接觸面和(he)接觸面BTB連接器(qi)端子(zi)兩側(ce)保持(chi)接觸狀態，使測試穩定(ding)，母(mu)座測試良(liang)(liang)率(lv)達到99.8%。

　　大(da)電流彈片微(wei)針(zhen)模組測試效率高，穩定性(xing)好。與同一產品(pin)測試前后相比，連接(jie)器(qi)基本上(shang)看不(bu)到刺痕，不(bu)會對(dui)產品(pin)造(zao)成任何損壞pogo pin電池測試模塊更值得選擇和信(xin)賴。