21世(shi)紀發展的(de)理想電(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)可(ke)廣泛應用于 3C 也(ye)被(bei)稱為手機(ji)、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)(nao)、可(ke)穿戴設備等領域(yu)，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)具有能(neng)量(liang)密度高(gao)、電(dian)(dian)(dian)壓高(gao)、壽命長、無記憶效應等優點，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)是容易因短路、過(guo)充等原(yuan)因燒毀或(huo)爆炸，所(suo)以很危險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測(ce)試是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)制造(zao)和組裝(zhuang)的(de)重要環(huan)節，是實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)性(xing)能(neng)和安(an)全靠譜使用的(de)有力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)測(ce)試項目主(zhu)要包括一致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安(an)全性(xing)、可(ke)靠性(xing)和工況(kuang)模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模(mo)塊。通過比較兩者的優(you)缺點，我們可以更(geng)(geng)直觀(guan)地(di)區分哪(na)一個更(geng)(geng)符合要求3C鋰電池(chi)測試要求。

　　從目前的(de)市(shi)場(chang)趨(qu)勢來看，3C電(dian)子產品(pin)內部空間(jian)集成度高(gao)，pitch不斷縮小，pogopin探(tan)針模組在小pitch該領域適應性(xing)差(cha)，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽命和穩(wen)定性(xing)差(cha)。3C鋰(li)電(dian)池測試對(dui)電(dian)流(liu)的(de)需求很大，pogopin探(tan)針模塊能(neng)承載的(de)額定電(dian)流(liu)僅為1A，在傳輸過程中，電(dian)流(liu)會在不同位衰(shuai)減，導(dao)致(zhi)連接不穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針模組無論是面對小(xiao)間距(ju)還是大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)，都(dou)有很好的(de)應對方法(fa)。在小(xiao)pitch在該領(ling)域，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針模塊是可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)(xing)能穩(wen)(wen)定可靠。面對大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)測試(shi)要求(qiu)，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針模塊可通過(guo)的(de)額定電(dian)(dian)流(liu)大(da)(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良好的(de)連(lian)接功能，可以很大(da)(da)限度(du)地保障3C鋰電(dian)(dian)池測試(shi)的(de)穩(wen)(wen)定性(xing)(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽命(ming)(ming)而言，pogopin探針(zhen)模(mo)塊的(de)試(shi)驗(yan)壽命(ming)(ming)在于5w大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組(zu)的(de)試(shi)驗(yan)壽命(ming)(ming)約為(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)模(mo)塊整整多了四倍(bei)!況且pogo pin探針(zhen)模(mo)塊為(wei)多組(zu)件結構，生產(chan)(chan)工藝復雜(za)，生產(chan)(chan)難度高，交貨期長(chang);大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組(zu)是一種集成彈片(pian)結構，輕、扁(bian)平，可根(gen)據客戶要求(qiu)定制(zhi)，生產(chan)(chan)難度低，交貨期短。相比之下，通大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組(zu)的(de)成本性能(neng)并不太(tai)高!

　　對(dui)比母(mu)座(zuo)測(ce)試良率，pogopin針對(dui)探針模塊BTB連接(jie)器母(mu)座(zuo)幾乎無法(fa)實現，穩定(ding)性(xing)極差。大部分采用觸摸方(fang)案對(dui)應，母(mu)座(zuo)測(ce)試良率不到80%;母(mu)座(zuo)上有(you)一(yi)種(zhong)特別的(de)通大電(dian)流彈片(pian)微(wei)針模組對(dui)應方(fang)法(fa)。將斜口型(xing)(也稱尖頭型(xing))彈片(pian)頭插入連接(jie)器內(nei)端子，以保持一(yi)定(ding)的(de)開度，從(cong)而(er)保障彈片(pian)的(de)接(jie)觸面(mian)和(he)接(jie)觸面(mian)BTB連接(jie)器端子兩側保持接(jie)觸狀態，使測(ce)試穩定(ding)，母(mu)座(zuo)測(ce)試良率達到99.8%。

　　大電流彈片微針模組(zu)測(ce)試(shi)(shi)(shi)效率高(gao)，穩定性好。與(yu)同一(yi)產(chan)品測(ce)試(shi)(shi)(shi)前后(hou)相比，連接(jie)器基(ji)本上看不(bu)到刺痕，不(bu)會對產(chan)品造成任(ren)何損壞pogo pin電池測(ce)試(shi)(shi)(shi)模塊(kuai)更值得(de)選(xuan)擇和信賴(lai)。