21世(shi)紀發展(zhan)的(de)(de)理(li)想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也(ye)被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設(she)備(bei)等(deng)領(ling)域，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)能量密(mi)度(du)高(gao)、電(dian)(dian)(dian)壓高(gao)、壽命長、無記憶(yi)效應等(deng)優點，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)是容(rong)易(yi)因(yin)短路、過充(chong)等(deng)原因(yin)燒毀或爆炸(zha)，所以很危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)是鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組(zu)裝的(de)(de)重(zhong)要環節，是實(shi)現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能和安(an)全(quan)靠譜使用(yong)的(de)(de)有(you)力保障。3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)項目主要包括(kuo)一致性(xing)、功能性(xing)、安(an)全(quan)性(xing)、可靠性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通過比較兩者的優缺點，我們(men)可以更直觀地區(qu)分哪一(yi)個更符(fu)合要求(qiu)(qiu)3C鋰(li)電池測試要求(qiu)(qiu)。

　　從(cong)目前的(de)市場趨(qu)勢(shi)來看，3C電子產品內部空間集(ji)成度高，pitch不(bu)斷縮小，pogopin探針模(mo)組在(zai)小pitch該領域適應性差(cha)，只能(neng)處(chu)理0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽命和穩(wen)定(ding)性差(cha)。3C鋰(li)電池(chi)測試對電流(liu)的(de)需求很(hen)大，pogopin探針模(mo)塊能(neng)承載(zai)的(de)額定(ding)電流(liu)僅(jin)為1A，在(zai)傳輸(shu)過程(cheng)中，電流(liu)會(hui)在(zai)不(bu)同(tong)位衰減，導致連(lian)接不(bu)穩(wen)定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電流彈(dan)片微針模組(zu)無論是面對(dui)小(xiao)間距還是大(da)電流，都(dou)有很好的應(ying)對(dui)方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領域，大(da)電流彈(dan)片微針模塊是可取的pitch值(zhi)在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定可靠。面對(dui)大(da)電流測試(shi)要求，大(da)電流彈(dan)片微針模塊可通過的額定電流大(da)到50A，在(zai)1-50A電阻(zu)恒定，幾乎沒有電流衰減，具有良好的連接功能，可以很大(da)限(xian)度地保(bao)障3C鋰(li)電池(chi)測試(shi)的穩定性。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽(shou)命而言，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊的試(shi)驗壽(shou)命在(zai)于5w大電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組(zu)的試(shi)驗壽(shou)命約(yue)為(wei)20w以上，比(bi)(bi)較pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊整(zheng)整(zheng)多了四倍(bei)!況且pogo pin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊為(wei)多組(zu)件結(jie)構，生(sheng)產工(gong)藝(yi)復雜，生(sheng)產難度(du)高，交貨(huo)期長(chang);大電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組(zu)是一(yi)種集成彈(dan)片(pian)結(jie)構，輕、扁平，可根據客戶要(yao)求(qiu)定制，生(sheng)產難度(du)低，交貨(huo)期短。相比(bi)(bi)之下，通大電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組(zu)的成本(ben)性能并不太高!

　　對比(bi)母(mu)(mu)座(zuo)測試良(liang)率，pogopin針對探針模(mo)塊BTB連(lian)接器母(mu)(mu)座(zuo)幾乎無法(fa)實現，穩定性極差。大部(bu)分采(cai)用(yong)觸摸方案(an)對應，母(mu)(mu)座(zuo)測試良(liang)率不到(dao)80%;母(mu)(mu)座(zuo)上(shang)有(you)一種特(te)別(bie)的通大電(dian)流彈片(pian)(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組對應方法(fa)。將斜口型(xing)(也稱(cheng)尖頭型(xing))彈片(pian)(pian)(pian)頭插入連(lian)接器內(nei)端(duan)子，以(yi)保持一定的開度，從而保障彈片(pian)(pian)(pian)的接觸面和接觸面BTB連(lian)接器端(duan)子兩側保持接觸狀態，使測試穩定，母(mu)(mu)座(zuo)測試良(liang)率達到(dao)99.8%。

　　大電(dian)流(liu)彈(dan)片微針模(mo)組測(ce)試(shi)效(xiao)率高(gao)，穩定性好。與同一產(chan)品測(ce)試(shi)前后相(xiang)比，連接器(qi)基本上看不到刺痕，不會(hui)對產(chan)品造成任何損(sun)壞pogo pin電(dian)池測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)更值得選擇和信賴。