21世(shi)紀發展的理想電(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備(bei)等領域，鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)具有能(neng)量密度高(gao)、電(dian)(dian)壓高(gao)、壽命長(chang)、無(wu)記憶效應(ying)等優點，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)是(shi)容易因短(duan)路、過充等原因燒毀或爆(bao)炸(zha)，所以很危險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)是(shi)鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)制造和(he)組裝(zhuang)的重要環節，是(shi)實現(xian)鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)性能(neng)和(he)安全(quan)(quan)靠譜使用的有力保障。3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)項目(mu)主(zhu)要包括一(yi)致性、功能(neng)性、安全(quan)(quan)性、可(ke)靠性和(he)工況模(mo)擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通過比較(jiao)兩(liang)者的優缺(que)點，我們可以更直觀地區(qu)分(fen)哪一(yi)個更符合要(yao)求3C鋰電池測(ce)試(shi)要(yao)求。

　　從目(mu)前的市場趨勢來看，3C電(dian)子產品內部空(kong)間集成(cheng)度高，pitch不(bu)(bu)斷縮小，pogopin探針模組在(zai)小pitch該領域(yu)適應性差(cha)，只(zhi)能(neng)處理(li)0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩(wen)定(ding)性差(cha)。3C鋰電(dian)池測(ce)試對(dui)電(dian)流(liu)的需求(qiu)很大，pogopin探針模塊能(neng)承(cheng)載的額(e)定(ding)電(dian)流(liu)僅為1A，在(zai)傳(chuan)輸過程中，電(dian)流(liu)會在(zai)不(bu)(bu)同位衰減，導致連(lian)接不(bu)(bu)穩(wen)定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)電(dian)流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)無論是面(mian)對(dui)小(xiao)間距還是大(da)電(dian)流，都(dou)有(you)很(hen)好的應(ying)對(dui)方(fang)法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領域，大(da)電(dian)流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模塊是可(ke)(ke)取的pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)可(ke)(ke)靠(kao)。面(mian)對(dui)大(da)電(dian)流測試要求，大(da)電(dian)流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模塊可(ke)(ke)通(tong)過的額定(ding)電(dian)流大(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)流衰(shuai)減，具有(you)良好的連接功(gong)能，可(ke)(ke)以(yi)很(hen)大(da)限度(du)地(di)保障3C鋰電(dian)池測試的穩定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就(jiu)使用壽命而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)(kuai)的試(shi)驗壽命在于5w大電(dian)流(liu)彈片微(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模組的試(shi)驗壽命約為20w以(yi)上，比(bi)較(jiao)pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)(kuai)整整多了四倍!況且pogo pin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)(kuai)為多組件結構，生產工藝復雜，生產難(nan)度高，交貨期長;大電(dian)流(liu)彈片微(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模組是一(yi)種集成(cheng)彈片結構，輕(qing)、扁平，可根據客戶要求(qiu)定制，生產難(nan)度低，交貨期短。相比(bi)之(zhi)下，通大電(dian)流(liu)彈片微(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模組的成(cheng)本(ben)性能并(bing)不(bu)太高!

　　對比(bi)母座測試(shi)良率(lv)，pogopin針(zhen)(zhen)對探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)BTB連(lian)接(jie)器(qi)(qi)母座幾乎無法(fa)實現，穩定(ding)性極差。大部分采用觸摸方案對應(ying)，母座測試(shi)良率(lv)不到80%;母座上有一(yi)種特別的(de)(de)(de)通大電流彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模組對應(ying)方法(fa)。將斜口(kou)型(也(ye)稱尖頭型)彈片(pian)頭插(cha)入連(lian)接(jie)器(qi)(qi)內端子，以保(bao)(bao)持一(yi)定(ding)的(de)(de)(de)開度，從而保(bao)(bao)障彈片(pian)的(de)(de)(de)接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連(lian)接(jie)器(qi)(qi)端子兩(liang)側(ce)保(bao)(bao)持接(jie)觸狀態，使測試(shi)穩定(ding)，母座測試(shi)良率(lv)達到99.8%。

　　大電流彈片微針(zhen)模組測(ce)試(shi)效率高，穩定性(xing)好(hao)。與(yu)同一產品測(ce)試(shi)前后相比(bi)，連接器基本上(shang)看不到刺痕，不會對產品造成任(ren)何(he)損壞pogo pin電池測(ce)試(shi)模塊更值得選(xuan)擇和信賴。