21世紀發展的理想(xiang)電(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)池(chi)可(ke)(ke)廣泛應(ying)用(yong)于(yu) 3C 也(ye)被稱為手機、平板電(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)腦、可(ke)(ke)穿戴設(she)備等領域，鋰(li)(li)電(dian)池(chi)具(ju)有能(neng)量密度(du)高(gao)、電(dian)壓高(gao)、壽命長、無記(ji)憶效應(ying)等優點，3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)是(shi)容易因(yin)短路、過充(chong)等原因(yin)燒毀或(huo)爆炸，所以(yi)很(hen)危險3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)測試是(shi)鋰(li)(li)電(dian)池(chi)制造和組裝的重要環節，是(shi)實(shi)現(xian)鋰(li)(li)電(dian)池(chi)性(xing)能(neng)和安(an)全靠譜(pu)使用(yong)的有力(li)保障。3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)測試項目主要包(bao)括一致性(xing)、功(gong)能(neng)性(xing)、安(an)全性(xing)、可(ke)(ke)靠性(xing)和工況模擬(ni)。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通過比較兩者的優(you)缺(que)點(dian)，我(wo)們可(ke)以(yi)更直觀(guan)地區分哪一個(ge)更符合(he)要求3C鋰電池(chi)測試要求。

　　從目前的(de)市場趨勢來看，3C電子產品(pin)內(nei)部空間集成度高，pitch不(bu)斷縮(suo)小，pogopin探(tan)針模組(zu)在(zai)小pitch該(gai)領域適應性差，只(zhi)能(neng)(neng)處理0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽(shou)命和穩定(ding)(ding)性差。3C鋰電池測(ce)試對電流(liu)的(de)需求很大(da)，pogopin探(tan)針模塊能(neng)(neng)承(cheng)載(zai)的(de)額定(ding)(ding)電流(liu)僅為1A，在(zai)傳輸過(guo)程中，電流(liu)會在(zai)不(bu)同位衰減，導致連接不(bu)穩定(ding)(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)流彈片微針(zhen)模(mo)(mo)組無(wu)論是(shi)面對小間距還是(shi)大(da)電(dian)流，都有很好(hao)的(de)(de)應對方法。在小pitch在該(gai)領域，大(da)電(dian)流彈片微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)是(shi)可(ke)取的(de)(de)pitch值(zhi)在0.15mm-0.4mm性能(neng)(neng)穩定(ding)可(ke)靠。面對大(da)電(dian)流測試要求，大(da)電(dian)流彈片微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)可(ke)通過的(de)(de)額定(ding)電(dian)流大(da)到50A，在1-50A電(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)流衰(shuai)減，具有良好(hao)的(de)(de)連接(jie)功(gong)能(neng)(neng)，可(ke)以很大(da)限度(du)地保障3C鋰(li)電(dian)池測試的(de)(de)穩定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽(shou)命而(er)言，pogopin探(tan)針模(mo)塊(kuai)的試驗壽(shou)命在于(yu)5w大電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)的試驗壽(shou)命約為20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)針模(mo)塊(kuai)整整多了四倍!況且pogo pin探(tan)針模(mo)塊(kuai)為多組(zu)件結構，生(sheng)產(chan)(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)(chan)難度高，交貨(huo)期(qi)(qi)長;大電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)是一種(zhong)集成彈片(pian)(pian)結構，輕、扁平，可根據(ju)客(ke)戶要(yao)求定制(zhi)，生(sheng)產(chan)(chan)難度低，交貨(huo)期(qi)(qi)短。相比(bi)之(zhi)下(xia)，通大電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)的成本性(xing)能并不太(tai)高!

　　對比(bi)母(mu)(mu)座(zuo)測試良(liang)率(lv)，pogopin針(zhen)對探針(zhen)模(mo)塊BTB連接器(qi)母(mu)(mu)座(zuo)幾乎無(wu)法實現，穩(wen)定性極(ji)差。大(da)部分采用觸摸方案對應，母(mu)(mu)座(zuo)測試良(liang)率(lv)不到80%;母(mu)(mu)座(zuo)上有一種(zhong)特別的(de)通(tong)大(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組(zu)對應方法。將斜口型(也稱尖(jian)頭型)彈(dan)片頭插入連接器(qi)內端(duan)子，以保持(chi)一定的(de)開度，從而保障彈(dan)片的(de)接觸面(mian)和接觸面(mian)BTB連接器(qi)端(duan)子兩側保持(chi)接觸狀態，使(shi)測試穩(wen)定，母(mu)(mu)座(zuo)測試良(liang)率(lv)達到99.8%。

　　大電(dian)流彈片微(wei)針模(mo)組測試效率高，穩定(ding)性好(hao)。與(yu)同一產品測試前后相(xiang)比，連接器(qi)基本上看不到刺痕，不會對產品造成任何(he)損(sun)壞pogo pin電(dian)池測試模(mo)塊更值(zhi)得選擇和(he)信(xin)賴。