我們(men)常看(kan)到的一(yi)些3C產品，里(li)面(mian)都有(you)(you)安裝(zhuang)鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)具有(you)(you)高能量密度、高電(dian)(dian)壓、壽命長、無記憶效應等優點(dian)，是21世(shi)紀發展的理想電(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)可廣泛應用于(yu) 3C 也(ye)被稱為手(shou)機、平板(ban)電(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)腦、可穿(chuan)戴設備(bei)等領(ling)域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)容易因(yin)(yin)短路、過充等原因(yin)(yin)燒毀或爆炸，所以(yi)很危險(xian)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)是鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)制造和(he)組裝(zhuang)的重要(yao)(yao)環節，是實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)性能和(he)安全(quan)(quan)靠(kao)譜(pu)使用的有(you)(you)力保障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)項目主要(yao)(yao)包(bao)括一(yi)致性、功能性、安全(quan)(quan)性、靠(kao)譜(pu)性和(he)工況(kuang)模擬。

　　3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)對電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)模塊(kuai)的(de)選擇(ze)很重(zhong)要(yao)。目前市場上(shang)廣泛使(shi)用的(de)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)模塊(kuai)有兩種，一種是凱智通大(da)電(dian)流彈片微(wei)針模塊(kuai)，另(ling)一種是pogo pin探針模塊(kuai)。通過比較兩者的(de)優缺點，我(wo)們可以更直觀地區分哪一個更符合要(yao)求(qiu)3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面(mian)對(dui)小間距(ju)還是大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)，大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模塊都有(you)很(hen)好(hao)的(de)應對(dui)方法。pitch在(zai)該(gai)領域，大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模塊是可取的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)(ding)靠譜。面(mian)對(dui)大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)測試要求，大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)(wei)(wei)針(zhen)(zhen)模塊可通過的(de)額定(ding)(ding)電(dian)流(liu)大(da)(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒(heng)定(ding)(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)衰減，具有(you)良好(hao)的(de)連接功能，可以很(hen)大(da)(da)(da)限度(du)地保障3C鋰電(dian)池(chi)測試的(de)穩定(ding)(ding)性。

　　就使用壽(shou)(shou)(shou)命而(er)言，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的試(shi)驗(yan)壽(shou)(shou)(shou)命在于5w大電(dian)流彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的試(shi)驗(yan)壽(shou)(shou)(shou)命約(yue)為(wei)20w以(yi)上，比較pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)整整多了四倍！pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)為(wei)多組件結(jie)構，生產工藝復雜，生產難度高(gao)(gao)，交貨周期(qi)長；大型(xing)電(dian)流彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)為(wei)一體化彈片結(jie)構，輕、扁(bian)平(ping)，可根據客戶要求定制，生產難度低(di)，交貨周期(qi)短(duan)。相(xiang)比之下，大型(xing)電(dian)流彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的成本性能并不太高(gao)(gao)！

　　對(dui)比母(mu)座(zuo)測試良(liang)(liang)率，pogopin探針模組針對(dui)BTB連(lian)接器(qi)母(mu)座(zuo)幾乎無法實(shi)現，穩定(ding)性極差。大部分采(cai)用觸(chu)(chu)摸方案對(dui)應，母(mu)座(zuo)測試良(liang)(liang)率不到80%；母(mu)座(zuo)上有一種特別的(de)大電流彈片微針模塊對(dui)應方法。將斜口型(xing)（也(ye)稱尖頭(tou)型(xing)）彈片頭(tou)插入連(lian)接器(qi)內端(duan)子，以保持(chi)一定(ding)的(de)開(kai)度，從(cong)而保障彈片的(de)接觸(chu)(chu)面和(he)接觸(chu)(chu)面BTB連(lian)接器(qi)端(duan)子兩側保持(chi)接觸(chu)(chu)狀態(tai)，使測試穩定(ding)，母(mu)座(zuo)測試良(liang)(liang)率高達99.8%。

　
　大電流彈片微針模(mo)塊測試效率高，穩(wen)定性好(hao)。與同(tong)一產(chan)品(pin)測試前后(hou)相比，連接器基本上看不(bu)到刺痕，不(bu)會對產(chan)品(pin)造成任(ren)何損壞pogopin探針電池(chi)測試模(mo)塊更(geng)值得選擇和信賴。