我們(men)常看到(dao)的(de)一(yi)些3C產(chan)品，里面都有(you)安(an)(an)裝鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)高能(neng)量密(mi)度、高電(dian)(dian)壓、壽命(ming)長、無(wu)記(ji)憶效應等(deng)優點，是21世紀發展的(de)理想(xiang)電(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)廣(guang)泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦(nao)、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦(nao)、可(ke)穿戴設備等(deng)領域3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)容(rong)易(yi)因短路、過充等(deng)原因燒(shao)毀或(huo)爆(bao)炸，所以很危險(xian)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試是鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)制造(zao)和(he)(he)組裝的(de)重要環節，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)(xing)能(neng)和(he)(he)安(an)(an)全(quan)靠(kao)譜使用的(de)有(you)力保障，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試項目主要包括一(yi)致性(xing)(xing)、功能(neng)性(xing)(xing)、安(an)(an)全(quan)性(xing)(xing)、靠(kao)譜性(xing)(xing)和(he)(he)工(gong)況模擬。

　　3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試對電(dian)(dian)池測(ce)試模塊的(de)選擇很(hen)重要(yao)。目前(qian)市(shi)場(chang)上廣泛使用的(de)電(dian)(dian)池測(ce)試模塊有兩種(zhong)，一種(zhong)是(shi)凱智(zhi)通大電(dian)(dian)流彈片微針(zhen)(zhen)模塊，另(ling)一種(zhong)是(shi)pogo pin探針(zhen)(zhen)模塊。通過比(bi)較(jiao)兩者的(de)優(you)缺點，我(wo)們可以(yi)更直(zhi)觀(guan)地區分(fen)哪一個更符合要(yao)求3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對(dui)(dui)小間距還(huan)是大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微針模塊都有很好的應對(dui)(dui)方(fang)法(fa)。pitch在該(gai)領(ling)域(yu)，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微針模塊是可(ke)取的pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)靠譜。面對(dui)(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試(shi)要求，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微針模塊可(ke)通過(guo)的額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)大(da)(da)到(dao)50A，在1-50A電(dian)(dian)阻(zu)恒(heng)定(ding)，幾(ji)乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良好的連接功能，可(ke)以很大(da)(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試(shi)的穩定(ding)性。

　　就使用壽(shou)命而言(yan)，pogopin探針模(mo)塊的(de)試(shi)驗(yan)壽(shou)命在于5w大電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊的(de)試(shi)驗(yan)壽(shou)命約為20w以(yi)上，比(bi)較(jiao)pogopin探針模(mo)塊整整多了(le)四倍(bei)！pogopin探針模(mo)塊為多組件結構，生產工藝復雜，生產難度高，交貨周期長(chang)；大型電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊為一體化彈片結構，輕、扁平，可根據客(ke)戶要求定制，生產難度低，交貨周期短。相比(bi)之下，大型電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊的(de)成本性(xing)能(neng)并不太高！

　　對(dui)比母(mu)座測試良率(lv)(lv)，pogopin探針模組針對(dui)BTB連(lian)接(jie)器母(mu)座幾乎無法實現，穩定(ding)性(xing)極差。大(da)部分采(cai)用觸摸(mo)方案對(dui)應，母(mu)座測試良率(lv)(lv)不到80%；母(mu)座上有一種(zhong)特別的大(da)電流彈(dan)片微針模塊對(dui)應方法。將(jiang)斜口型（也稱尖頭(tou)型）彈(dan)片頭(tou)插入連(lian)接(jie)器內(nei)端(duan)子，以保(bao)持一定(ding)的開度，從而保(bao)障彈(dan)片的接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連(lian)接(jie)器端(duan)子兩側保(bao)持接(jie)觸狀態(tai)，使測試穩定(ding)，母(mu)座測試良率(lv)(lv)高達99.8%。

　
　大(da)電流彈片微針(zhen)模塊測試效率(lv)高，穩定性好。與同一產品(pin)測試前后相(xiang)比(bi)，連接器基本上看不到刺(ci)痕，不會(hui)對(dui)產品(pin)造成任何損(sun)壞pogopin探(tan)針(zhen)電池測試模塊更值得選擇和信賴。