我們常看到的(de)一些3C產品(pin)，里(li)面都有安裝鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有高(gao)能量密度、高(gao)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、壽命長、無(wu)記憶效應等(deng)優(you)點，是(shi)21世(shi)紀(ji)發展的(de)理想(xiang)電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用于 3C 也被稱(cheng)為手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦、筆記本(ben)電(dian)(dian)(dian)腦、可穿戴設備等(deng)領域(yu)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因短路、過(guo)充等(deng)原(yuan)因燒毀或爆炸，所以很危險(xian)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是(shi)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組(zu)裝的(de)重要環節，是(shi)實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能和安全(quan)靠譜(pu)使用的(de)有力保障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項目主要包括一致(zhi)性(xing)、功能性(xing)、安全(quan)性(xing)、靠譜(pu)性(xing)和工況模(mo)擬。

　　3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池測(ce)(ce)試(shi)對電(dian)(dian)池測(ce)(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)的(de)選(xuan)擇很(hen)重要(yao)(yao)。目前市場(chang)上廣泛使用的(de)電(dian)(dian)池測(ce)(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)有(you)兩種，一(yi)種是凱智通大電(dian)(dian)流彈片微針模(mo)塊(kuai)，另一(yi)種是pogo pin探(tan)針模(mo)塊(kuai)。通過比較兩者的(de)優(you)缺(que)點(dian)，我們可以(yi)更直觀地區分(fen)哪一(yi)個更符合要(yao)(yao)求(qiu)(qiu)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池測(ce)(ce)試(shi)要(yao)(yao)求(qiu)(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對(dui)小(xiao)間(jian)距還是大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)(kuai)都有很好的(de)應對(dui)方法。pitch在(zai)該領(ling)域，大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)(kuai)是可(ke)取的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩(wen)定(ding)(ding)靠(kao)譜。面對(dui)大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測試要求，大(da)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)(kuai)可(ke)通(tong)過的(de)額定(ding)(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)，幾(ji)乎沒有電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰減(jian)，具有良好的(de)連(lian)接功能，可(ke)以很大(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池測試的(de)穩(wen)定(ding)(ding)性(xing)。

　　就使用壽命(ming)而言(yan)，pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)的試驗(yan)壽命(ming)在于5w大(da)電(dian)(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模(mo)塊(kuai)的試驗(yan)壽命(ming)約(yue)為20w以上，比較pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了四倍！pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)為多(duo)組件結(jie)構，生(sheng)產工藝復雜，生(sheng)產難度高(gao)，交貨周期長；大(da)型電(dian)(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模(mo)塊(kuai)為一體化(hua)彈(dan)片結(jie)構，輕、扁平，可(ke)根據客戶要(yao)求(qiu)定(ding)制，生(sheng)產難度低，交貨周期短。相比之下，大(da)型電(dian)(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模(mo)塊(kuai)的成(cheng)本性能并不太高(gao)！

　　對(dui)比母座測試(shi)良率，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對(dui)BTB連(lian)接器(qi)母座幾乎無法實現，穩定性極差。大部分(fen)采(cai)用(yong)觸摸方(fang)案對(dui)應，母座測試(shi)良率不到80%；母座上有一(yi)種特別的大電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊對(dui)應方(fang)法。將斜口型（也稱尖頭(tou)型）彈(dan)片頭(tou)插(cha)入連(lian)接器(qi)內端(duan)子(zi)，以保持一(yi)定的開度，從而保障彈(dan)片的接觸面和(he)接觸面BTB連(lian)接器(qi)端(duan)子(zi)兩側保持接觸狀態(tai)，使測試(shi)穩定，母座測試(shi)良率高(gao)達99.8%。

　
　大電流(liu)彈片微針(zhen)模塊測(ce)試效率(lv)高，穩定性好。與同一產品測(ce)試前(qian)后相(xiang)比，連接器(qi)基本上看(kan)不到刺痕，不會對產品造成任何損(sun)壞pogopin探針(zhen)電池測(ce)試模塊更(geng)值(zhi)得選(xuan)擇(ze)和信賴。