我們(men)常(chang)看到(dao)的(de)(de)一些3C產(chan)品，里面都有安(an)裝鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池具有高能(neng)量密度、高電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無(wu)記(ji)憶效應等優點(dian)，是21世紀發展(zhan)的(de)(de)理(li)想電(dian)(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池可(ke)廣泛應用于 3C 也(ye)被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備等領域3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池容(rong)易因短路、過充等原因燒毀或爆炸，所以很(hen)危險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池測試是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池制造和組裝的(de)(de)重要(yao)(yao)環節，是實現(xian)鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池性能(neng)和安(an)全(quan)靠譜使用的(de)(de)有力保(bao)障，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池測試項目主(zhu)要(yao)(yao)包(bao)括一致(zhi)性、功能(neng)性、安(an)全(quan)性、靠譜性和工況模(mo)擬。

　　3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試(shi)對電(dian)(dian)池測試(shi)模(mo)(mo)塊的(de)(de)選擇很重要(yao)。目前(qian)市場上廣(guang)泛使(shi)用的(de)(de)電(dian)(dian)池測試(shi)模(mo)(mo)塊有兩種，一種是凱(kai)智通大電(dian)(dian)流彈片(pian)微針模(mo)(mo)塊，另一種是pogo pin探(tan)針模(mo)(mo)塊。通過比較兩者的(de)(de)優缺點(dian)，我們可以(yi)更(geng)(geng)直觀地(di)區分哪一個更(geng)(geng)符合(he)要(yao)求3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試(shi)要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面(mian)(mian)對小間距(ju)還是大(da)電(dian)流(liu)(liu)，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊(kuai)(kuai)都有很(hen)好的(de)應對方(fang)法。pitch在該領域(yu)，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊(kuai)(kuai)是可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)靠譜。面(mian)(mian)對大(da)電(dian)流(liu)(liu)測(ce)試(shi)要求，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊(kuai)(kuai)可通過的(de)額(e)定(ding)電(dian)流(liu)(liu)大(da)到(dao)50A，在1-50A電(dian)阻恒(heng)定(ding)，幾乎(hu)沒有電(dian)流(liu)(liu)衰減，具有良好的(de)連接(jie)功(gong)能，可以很(hen)大(da)限度地保障3C鋰(li)電(dian)池測(ce)試(shi)的(de)穩定(ding)性。

　　就使用(yong)壽(shou)命而言，pogopin探針(zhen)(zhen)模塊的(de)(de)試驗壽(shou)命在于(yu)5w大電流彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模塊的(de)(de)試驗壽(shou)命約(yue)為(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)(zhen)模塊整整多(duo)了四(si)倍(bei)！pogopin探針(zhen)(zhen)模塊為(wei)多(duo)組(zu)件(jian)結構，生產(chan)工藝復雜，生產(chan)難度(du)高(gao)，交貨周期長；大型電流彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模塊為(wei)一體化(hua)彈片結構，輕、扁平，可根據客戶要求(qiu)定制，生產(chan)難度(du)低，交貨周期短。相比之(zhi)下，大型電流彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模塊的(de)(de)成本性(xing)能并不太(tai)高(gao)！

　　對(dui)(dui)比母座測(ce)(ce)試(shi)良(liang)(liang)率，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對(dui)(dui)BTB連接(jie)(jie)器(qi)母座幾乎(hu)無法實(shi)現，穩定性極差(cha)。大(da)部(bu)分采用觸(chu)摸方(fang)案對(dui)(dui)應(ying)，母座測(ce)(ce)試(shi)良(liang)(liang)率不到80%；母座上(shang)有一種(zhong)特別的(de)大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)對(dui)(dui)應(ying)方(fang)法。將斜口(kou)型（也稱尖(jian)頭型）彈(dan)片(pian)頭插入連接(jie)(jie)器(qi)內端子(zi)，以保(bao)持(chi)一定的(de)開度，從而保(bao)障彈(dan)片(pian)的(de)接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)和接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)BTB連接(jie)(jie)器(qi)端子(zi)兩側保(bao)持(chi)接(jie)(jie)觸(chu)狀(zhuang)態，使測(ce)(ce)試(shi)穩定，母座測(ce)(ce)試(shi)良(liang)(liang)率高達99.8%。

　
　大電流(liu)彈片微針(zhen)模(mo)塊測(ce)試(shi)效(xiao)率高(gao)，穩定性好。與同一(yi)產品(pin)測(ce)試(shi)前后相比，連接器基本上看不到(dao)刺痕，不會對產品(pin)造成任何(he)損(sun)壞pogopin探(tan)針(zhen)電池測(ce)試(shi)模(mo)塊更值得選擇和信賴。