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pogopin探針模組和大電流彈片微針模組在鋰電池測試,會有哪些差別

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-04-20

  我們常(chang)看到(dao)的(de)(de)一些3C產品,里面都(dou)有安裝鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi),鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)具(ju)有高(gao)能(neng)量密度(du)、高(gao)電(dian)(dian)壓(ya)、壽命長、無記(ji)憶(yi)效應等優(you)點,是21世紀發展(zhan)的(de)(de)理想電(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣(guang)泛(fan)應用于(yu) 3C 也被稱為手機、平(ping)板電(dian)(dian)腦(nao)、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設備等領域3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)容(rong)易因短路、過充等原(yuan)因燒毀(hui)或(huo)爆(bao)炸,所以很(hen)危(wei)險(xian)3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)制(zhi)造和組(zu)裝的(de)(de)重(zhong)要(yao)環節(jie),是實現鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能(neng)和安全(quan)靠(kao)譜(pu)使用的(de)(de)有力保障,3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項(xiang)目主要(yao)包(bao)括一致(zhi)性(xing)、功能(neng)性(xing)、安全(quan)性(xing)、靠(kao)譜(pu)性(xing)和工況模擬。


  3C鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)對(dui)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)模(mo)塊(kuai)的選擇很重要(yao)。目前市場上廣(guang)泛使(shi)用的電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)模(mo)塊(kuai)有兩(liang)(liang)種,一(yi)種是凱智通大電(dian)(dian)流彈片微針模(mo)塊(kuai),另一(yi)種是pogo pin探針模(mo)塊(kuai)。通過比較(jiao)兩(liang)(liang)者(zhe)的優缺點,我們(men)可以更直觀(guan)地(di)區分哪一(yi)個更符合要(yao)求(qiu)3C鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)要(yao)求(qiu)。


  從目前的市場趨勢來看,3C電子產品內部空間集成度高,pitch不斷縮小,日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差,只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大,pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A,在傳輸過程中,電流會在不同位衰減,導致連接不穩定。

4pin貼片連接器 (2).jpg


  無論面對(dui)(dui)小間距還是(shi)大(da)(da)電(dian)流,大(da)(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針模塊都有(you)很好的(de)應對(dui)(dui)方法。pitch在該領域,大(da)(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針模塊是(shi)可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定靠譜。面對(dui)(dui)大(da)(da)電(dian)流測(ce)試要求,大(da)(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針模塊可通(tong)過的(de)額(e)定電(dian)流大(da)(da)到50A,在1-50A電(dian)阻恒定,幾(ji)乎(hu)沒有(you)電(dian)流衰減,具(ju)有(you)良好的(de)連接功(gong)能,可以很大(da)(da)限度地(di)保障(zhang)3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)試的(de)穩定性(xing)。


  就使用壽命而言,pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的試驗(yan)壽命在于5w大電流彈片(pian)(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的試驗(yan)壽命約為(wei)(wei)20w以(yi)上,比(bi)較pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了四倍!pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)(wei)多(duo)組件結構,生(sheng)(sheng)產(chan)工(gong)藝復雜,生(sheng)(sheng)產(chan)難度高,交(jiao)貨周期長;大型(xing)電流彈片(pian)(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)(wei)一(yi)體化彈片(pian)(pian)結構,輕、扁平,可根據客戶(hu)要求定(ding)制,生(sheng)(sheng)產(chan)難度低,交(jiao)貨周期短。相比(bi)之下,大型(xing)電流彈片(pian)(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的成本性能并不太高!


  對(dui)比母座(zuo)(zuo)測試良率(lv)(lv),pogopin探針(zhen)(zhen)模組(zu)針(zhen)(zhen)對(dui)BTB連(lian)接器(qi)母座(zuo)(zuo)幾乎(hu)無法實現,穩定(ding)性極差。大(da)部分采(cai)用觸(chu)摸方(fang)(fang)案對(dui)應,母座(zuo)(zuo)測試良率(lv)(lv)不到(dao)80%;母座(zuo)(zuo)上有一種特別的(de)大(da)電流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)對(dui)應方(fang)(fang)法。將斜口型(xing)(也稱尖頭型(xing))彈片頭插入連(lian)接器(qi)內(nei)端(duan)(duan)子,以保持一定(ding)的(de)開(kai)度,從(cong)而保障彈片的(de)接觸(chu)面(mian)(mian)和接觸(chu)面(mian)(mian)BTB連(lian)接器(qi)端(duan)(duan)子兩(liang)側保持接觸(chu)狀態,使(shi)測試穩定(ding),母座(zuo)(zuo)測試良率(lv)(lv)高達99.8%。

 
 大電流彈片微(wei)針模塊測試效率高,穩定性好。與同(tong)一產品(pin)(pin)測試前后相比,連接器(qi)基(ji)本上看(kan)不到刺(ci)痕,不會(hui)對產品(pin)(pin)造成任何損壞(huai)pogopin探針電池測試模塊更值得選擇和信賴。

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