21世紀發展的(de)(de)理想電(dian)源。鋰電(dian)池(chi)可廣泛應(ying)用于(yu) 3C 也被稱(cheng)為手機、平板電(dian)腦、筆(bi)記本電(dian)腦、可穿戴設備等(deng)(deng)(deng)領域，鋰電(dian)池(chi)具有(you)能量密度高(gao)(gao)、電(dian)壓高(gao)(gao)、壽命長(chang)、無(wu)記憶效應(ying)等(deng)(deng)(deng)優(you)點，3C鋰電(dian)池(chi)是(shi)容易(yi)因短(duan)路、過(guo)充(chong)等(deng)(deng)(deng)原因燒毀(hui)或爆炸，所(suo)以很(hen)危(wei)險3C鋰電(dian)池(chi)測試是(shi)鋰電(dian)池(chi)制造(zao)和組裝的(de)(de)重(zhong)要環節，是(shi)實(shi)現鋰電(dian)池(chi)性(xing)(xing)(xing)能和安全靠譜使(shi)用的(de)(de)有(you)力保障。3C鋰電(dian)池(chi)測試項目(mu)主要包括一致性(xing)(xing)(xing)、功能性(xing)(xing)(xing)、安全性(xing)(xing)(xing)、可靠性(xing)(xing)(xing)和工(gong)況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探(tan)針模(mo)塊。通過比(bi)較兩者的優缺點，我(wo)們可以更(geng)直觀地區分哪(na)一個更(geng)符合(he)要求3C鋰(li)電池測試要求。

　　從目前的(de)(de)市場趨勢來看，3C電子產品內部空(kong)間集(ji)成(cheng)度高(gao)，pitch不斷(duan)縮小(xiao)，pogopin探針模組在(zai)(zai)小(xiao)pitch該領域適應性(xing)差，只(zhi)能處(chu)理0.3mm-0.4mm之(zhi)間的(de)(de)pitch壽命和穩定性(xing)差。3C鋰(li)電池測試(shi)對(dui)電流的(de)(de)需求很大，pogopin探針模塊能承載的(de)(de)額定電流僅為(wei)1A，在(zai)(zai)傳輸(shu)過程中(zhong)，電流會在(zai)(zai)不同位(wei)衰減，導(dao)致連(lian)接不穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微針模(mo)組(zu)無論(lun)是面對小(xiao)間距還是大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)，都有很好的(de)應對方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領(ling)域(yu)，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微針模(mo)塊(kuai)是可(ke)取的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩定(ding)可(ke)靠。面對大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)試(shi)要求，大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微針模(mo)塊(kuai)可(ke)通過的(de)額(e)定(ding)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)大到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)阻(zu)恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)衰減，具有良好的(de)連接功能(neng)，可(ke)以很大限度地保(bao)障(zhang)3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試(shi)的(de)穩定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽(shou)(shou)命(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)的試驗(yan)壽(shou)(shou)命(ming)在于5w大(da)(da)電流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模組的試驗(yan)壽(shou)(shou)命(ming)約為20w以(yi)上，比較pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)整(zheng)(zheng)整(zheng)(zheng)多了四倍!況且pogo pin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)為多組件結構(gou)，生(sheng)產工藝復雜(za)，生(sheng)產難度高(gao)，交(jiao)貨期長;大(da)(da)電流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模組是一(yi)種集成(cheng)彈片(pian)結構(gou)，輕、扁(bian)平，可根據客戶要求定制(zhi)，生(sheng)產難度低，交(jiao)貨期短。相比之下，通(tong)大(da)(da)電流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模組的成(cheng)本性(xing)能并不太高(gao)!

　　對(dui)比母座測試(shi)(shi)良率(lv)，pogopin針(zhen)(zhen)對(dui)探針(zhen)(zhen)模塊BTB連接(jie)器母座幾(ji)乎無法實(shi)現，穩定(ding)性極(ji)差。大(da)部分采用(yong)觸摸方(fang)案對(dui)應(ying)，母座測試(shi)(shi)良率(lv)不到(dao)80%;母座上有一種特別的(de)通大(da)電流彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模組對(dui)應(ying)方(fang)法。將斜(xie)口(kou)型(也稱尖(jian)頭型)彈片頭插入連接(jie)器內端子，以(yi)保(bao)持(chi)一定(ding)的(de)開度，從而保(bao)障彈片的(de)接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連接(jie)器端子兩側保(bao)持(chi)接(jie)觸狀(zhuang)態，使測試(shi)(shi)穩定(ding)，母座測試(shi)(shi)良率(lv)達到(dao)99.8%。

　　大電流彈片微針模組(zu)測(ce)試(shi)效率(lv)高，穩定性(xing)好。與(yu)同一產品測(ce)試(shi)前后相比(bi)，連接器基(ji)本上看不到刺痕(hen)，不會(hui)對產品造(zao)成任何損壞(huai)pogo pin電池測(ce)試(shi)模塊更值得選(xuan)擇和信賴。