21世紀發展的(de)理(li)想電(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)可(ke)(ke)廣(guang)泛(fan)應用(yong)于 3C 也被稱(cheng)為手機、平板(ban)電(dian)腦(nao)、筆(bi)記(ji)本電(dian)腦(nao)、可(ke)(ke)穿(chuan)戴設備等領(ling)域，鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)具有能(neng)量密度高、電(dian)壓高、壽(shou)命長、無記(ji)憶(yi)效應等優點(dian)，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)是容易因(yin)(yin)短路、過充等原因(yin)(yin)燒毀(hui)或(huo)爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測(ce)試是鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)制造和組裝的(de)重(zhong)要環節，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)性(xing)(xing)能(neng)和安全(quan)靠譜使用(yong)的(de)有力保障。3C鋰(li)(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測(ce)試項目主(zhu)要包括一致性(xing)(xing)、功能(neng)性(xing)(xing)、安全(quan)性(xing)(xing)、可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模(mo)塊。通過(guo)比較兩者的(de)優缺點，我們可以更(geng)直觀地區分哪(na)一個更(geng)符合(he)要(yao)求3C鋰電池測試要(yao)求。

　　從目前(qian)的市場趨(qu)勢來(lai)看，3C電(dian)子產品內(nei)部空間集成度高，pitch不斷縮(suo)小，pogopin探針模組在小pitch該領域適應性(xing)差，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命(ming)和穩(wen)定(ding)(ding)性(xing)差。3C鋰電(dian)池(chi)測試對電(dian)流(liu)的需求很大(da)，pogopin探針模塊能(neng)承載的額定(ding)(ding)電(dian)流(liu)僅為1A，在傳輸過程中(zhong)，電(dian)流(liu)會在不同位衰(shuai)減，導致連(lian)接不穩(wen)定(ding)(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大電(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模組(zu)無論是面(mian)對小間距還是大電(dian)流(liu)，都有(you)(you)很(hen)好的(de)(de)應(ying)對方法(fa)。在(zai)小pitch在(zai)該領(ling)域，大電(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模塊是可(ke)取(qu)的(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)可(ke)靠。面(mian)對大電(dian)流(liu)測試要求，大電(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)針(zhen)模塊可(ke)通(tong)過的(de)(de)額定(ding)電(dian)流(liu)大到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻(zu)恒定(ding)，幾乎沒有(you)(you)電(dian)流(liu)衰減，具有(you)(you)良好的(de)(de)連接功(gong)能，可(ke)以很(hen)大限(xian)度地保(bao)障3C鋰(li)電(dian)池測試的(de)(de)穩定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽(shou)命(ming)而(er)言，pogopin探針模(mo)(mo)(mo)塊的試驗壽(shou)命(ming)在于5w大(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)(mo)組(zu)的試驗壽(shou)命(ming)約為20w以上(shang)，比較pogopin探針模(mo)(mo)(mo)塊整整多了(le)四(si)倍!況且pogo pin探針模(mo)(mo)(mo)塊為多組(zu)件結構(gou)，生(sheng)(sheng)產工藝復雜(za)，生(sheng)(sheng)產難度(du)高，交貨期(qi)長;大(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)(mo)組(zu)是一種(zhong)集成彈(dan)片結構(gou)，輕、扁平，可(ke)根據客戶要求定制，生(sheng)(sheng)產難度(du)低，交貨期(qi)短。相比之下(xia)，通大(da)電(dian)流彈(dan)片微(wei)針模(mo)(mo)(mo)組(zu)的成本性(xing)能(neng)并不太高!

　　對比母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)(liang)率，pogopin針對探針模塊BTB連(lian)(lian)接(jie)器(qi)母(mu)(mu)座(zuo)幾(ji)乎(hu)無法實現，穩定性極差。大(da)(da)部分(fen)采用(yong)觸摸方案對應，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)(liang)率不到80%;母(mu)(mu)座(zuo)上有一種特別的通(tong)大(da)(da)電流彈(dan)片(pian)微針模組對應方法。將斜口型(也稱尖頭型)彈(dan)片(pian)頭插入連(lian)(lian)接(jie)器(qi)內端子(zi)，以保(bao)(bao)持(chi)一定的開度，從而保(bao)(bao)障彈(dan)片(pian)的接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連(lian)(lian)接(jie)器(qi)端子(zi)兩(liang)側保(bao)(bao)持(chi)接(jie)觸狀(zhuang)態，使測(ce)試(shi)穩定，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)(liang)率達到99.8%。

　　大電流彈片微針模組測試效(xiao)率高，穩定性好。與同(tong)一產品(pin)測試前后(hou)相比，連接器基本上看(kan)不(bu)到刺痕，不(bu)會對產品(pin)造(zao)成任何(he)損(sun)壞pogo pin電池(chi)測試模塊更值(zhi)得選擇和信賴(lai)。