21世紀(ji)發展的理(li)想(xiang)電(dian)(dian)源(yuan)。鋰電(dian)(dian)池(chi)可(ke)廣泛應用(yong)于(yu) 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備等(deng)領域，鋰電(dian)(dian)池(chi)具有能量密度高、電(dian)(dian)壓高、壽命長(chang)、無記憶效應等(deng)優點，3C鋰電(dian)(dian)池(chi)是(shi)容易因(yin)短路(lu)、過充等(deng)原因(yin)燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試是(shi)鋰電(dian)(dian)池(chi)制(zhi)造和(he)組裝的重要環節，是(shi)實現鋰電(dian)(dian)池(chi)性(xing)能和(he)安(an)全靠譜使用(yong)的有力(li)保障。3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試項目(mu)主要包括一(yi)致性(xing)、功能性(xing)、安(an)全性(xing)、可(ke)靠性(xing)和(he)工況模擬(ni)。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通過比較兩(liang)者的優缺點，我們可以更直觀地區分哪一個更符合(he)要(yao)(yao)求3C鋰電(dian)池測試要(yao)(yao)求。

　　從(cong)目(mu)前的(de)市場(chang)趨勢來(lai)看，3C電子產(chan)品(pin)內部空間(jian)集成度高，pitch不(bu)(bu)斷縮小，pogopin探針模(mo)組在小pitch該領域(yu)適應性差(cha)，只能處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽命和穩(wen)定性差(cha)。3C鋰電池測試對電流(liu)的(de)需求很大(da)，pogopin探針模(mo)塊(kuai)能承(cheng)載的(de)額(e)定電流(liu)僅為(wei)1A，在傳輸過(guo)程中，電流(liu)會在不(bu)(bu)同位衰減，導致連接不(bu)(bu)穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)無論是(shi)面(mian)對小間距還是(shi)大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)，都有(you)很好(hao)的應對方(fang)法。在小pitch在該領域，大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)塊是(shi)可取的pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定可靠(kao)。面(mian)對大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)測試要求，大(da)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)塊可通(tong)過的額定電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)阻恒定，幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)衰(shuai)減，具有(you)良(liang)好(hao)的連接功能，可以很大(da)限度地保障(zhang)3C鋰電(dian)池測試的穩定性。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽(shou)命(ming)而言，pogopin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊的(de)(de)試驗壽(shou)命(ming)在(zai)于(yu)5w大(da)電流彈片微針模(mo)(mo)(mo)組的(de)(de)試驗壽(shou)命(ming)約(yue)為20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊整整多了四倍!況且pogo pin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊為多組件結構(gou)(gou)，生(sheng)(sheng)產工(gong)藝復雜，生(sheng)(sheng)產難度高，交貨期(qi)長(chang);大(da)電流彈片微針模(mo)(mo)(mo)組是一種集成彈片結構(gou)(gou)，輕、扁平(ping)，可根據客戶要求定(ding)制，生(sheng)(sheng)產難度低，交貨期(qi)短。相比(bi)之下，通大(da)電流彈片微針模(mo)(mo)(mo)組的(de)(de)成本性(xing)能并(bing)不太(tai)高!

　　對(dui)比母(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良(liang)率(lv)，pogopin針(zhen)(zhen)(zhen)對(dui)探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊BTB連(lian)接器(qi)母(mu)座(zuo)幾(ji)乎無法實現(xian)，穩定性(xing)極(ji)差。大部分(fen)采用(yong)觸(chu)摸方(fang)案對(dui)應，母(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良(liang)率(lv)不到80%;母(mu)座(zuo)上有一(yi)種特別的(de)通大電流彈片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)組對(dui)應方(fang)法。將斜口(kou)型(也(ye)稱尖頭型)彈片頭插入連(lian)接器(qi)內端子(zi)，以保(bao)(bao)持一(yi)定的(de)開(kai)度(du)，從(cong)而保(bao)(bao)障彈片的(de)接觸(chu)面(mian)(mian)和接觸(chu)面(mian)(mian)BTB連(lian)接器(qi)端子(zi)兩側保(bao)(bao)持接觸(chu)狀(zhuang)態，使(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)穩定，母(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良(liang)率(lv)達(da)到99.8%。

　　大電流(liu)彈片微針模(mo)組測試(shi)效率高，穩定性好。與同一產品測試(shi)前后(hou)相比(bi)，連(lian)接(jie)器(qi)基本上看不(bu)(bu)到刺痕(hen)，不(bu)(bu)會(hui)對產品造成任何損壞(huai)pogo pin電池測試(shi)模(mo)塊更值得選擇和信賴。