21世紀發展的理想電(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)可廣泛應(ying)用于 3C 也被稱(cheng)為手機、平(ping)板(ban)電(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)腦、可穿(chuan)戴設備等領域，鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)具有能量(liang)密度高、電(dian)壓(ya)高、壽命長(chang)、無(wu)記(ji)憶效應(ying)等優點，3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)是容易因短(duan)路(lu)、過充(chong)等原(yuan)因燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)是鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)制造和組裝的重要環節(jie)，是實現鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)性(xing)能和安(an)全靠(kao)譜使用的有力(li)保障。3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)項(xiang)目主要包括一致性(xing)、功能性(xing)、安(an)全性(xing)、可靠(kao)性(xing)和工況(kuang)模(mo)擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通(tong)過(guo)比較兩者的優缺點，我們(men)可以更直觀地區分(fen)哪一個更符合(he)要求3C鋰電池測(ce)試要求。

　　從(cong)目前(qian)的(de)市場(chang)趨(qu)勢來看(kan)，3C電(dian)(dian)子產品內(nei)部空(kong)間集成度高，pitch不(bu)斷(duan)縮(suo)小，pogopin探針模組在小pitch該(gai)領域適應性(xing)差(cha)(cha)，只(zhi)能(neng)處(chu)理(li)0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽命和穩(wen)定性(xing)差(cha)(cha)。3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試(shi)對(dui)電(dian)(dian)流(liu)(liu)的(de)需求很大，pogopin探針模塊能(neng)承(cheng)載的(de)額(e)定電(dian)(dian)流(liu)(liu)僅為1A，在傳輸過程(cheng)中，電(dian)(dian)流(liu)(liu)會在不(bu)同位(wei)衰(shuai)減，導致連接不(bu)穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模組無論(lun)是(shi)(shi)面對小間距還是(shi)(shi)大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，都有很好的應對方(fang)法(fa)。在小pitch在該領域，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)是(shi)(shi)可(ke)(ke)(ke)取的pitch值在0.15mm-0.4mm性能(neng)穩(wen)定可(ke)(ke)(ke)靠。面對大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測試要求，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)可(ke)(ke)(ke)通(tong)過(guo)的額定電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒(mei)有電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰減，具(ju)有良好的連(lian)接功(gong)能(neng)，可(ke)(ke)(ke)以很大(da)限(xian)度地保障3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試的穩(wen)定性。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽(shou)命而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的(de)試驗壽(shou)命在于5w大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模組(zu)的(de)試驗壽(shou)命約(yue)為20w以上，比較pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了(le)四倍!況且(qie)pogo pin探(tan)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)為多(duo)組(zu)件結構，生(sheng)產工藝復雜，生(sheng)產難(nan)(nan)度高，交(jiao)貨(huo)期長;大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模組(zu)是(shi)一種集成(cheng)彈片(pian)結構，輕、扁平，可根(gen)據客戶要求定制，生(sheng)產難(nan)(nan)度低，交(jiao)貨(huo)期短。相(xiang)比之下，通(tong)大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模組(zu)的(de)成(cheng)本(ben)性能并不太高!

　　對比(bi)母座測試良率，pogopin針對探針模塊BTB連接(jie)器(qi)(qi)(qi)母座幾乎無法實(shi)現，穩定(ding)性極差。大部(bu)分采用(yong)觸(chu)摸方案對應(ying)，母座測試良率不到80%;母座上有一種特別的通大電流彈片微針模組對應(ying)方法。將(jiang)斜口型(也稱尖(jian)頭型)彈片頭插(cha)入連接(jie)器(qi)(qi)(qi)內端子(zi)，以保(bao)持(chi)(chi)一定(ding)的開度，從(cong)而保(bao)障彈片的接(jie)觸(chu)面和(he)接(jie)觸(chu)面BTB連接(jie)器(qi)(qi)(qi)端子(zi)兩側(ce)保(bao)持(chi)(chi)接(jie)觸(chu)狀(zhuang)態，使測試穩定(ding)，母座測試良率達到99.8%。

　　大電流彈片微(wei)針模組測(ce)試效率高(gao)，穩定性好。與同一產品測(ce)試前(qian)后相比，連(lian)接器基(ji)本上(shang)看不(bu)到刺痕，不(bu)會對產品造(zao)成任何損壞pogo pin電池(chi)測(ce)試模塊更值得(de)選(xuan)擇和信賴(lai)。