21世紀發展的(de)理想(xiang)電(dian)源。鋰電(dian)池可(ke)廣泛應用于 3C 也被稱為(wei)手機、平板電(dian)腦(nao)、筆記(ji)本(ben)電(dian)腦(nao)、可(ke)穿戴設備(bei)等領域，鋰電(dian)池具有(you)能量(liang)密度(du)高(gao)(gao)、電(dian)壓高(gao)(gao)、壽命(ming)長、無記(ji)憶效應等優點，3C鋰電(dian)池是容易因短路、過(guo)充等原因燒毀或爆(bao)炸(zha)，所以很危險3C鋰電(dian)池測(ce)(ce)試是鋰電(dian)池制造和(he)(he)組(zu)裝(zhuang)的(de)重要環節，是實現鋰電(dian)池性能和(he)(he)安全(quan)靠(kao)譜使(shi)用的(de)有(you)力保障。3C鋰電(dian)池測(ce)(ce)試項目主要包括一致性、功能性、安全(quan)性、可(ke)靠(kao)性和(he)(he)工(gong)況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊。通過比(bi)較兩者的優(you)缺點，我們(men)可以更直觀(guan)地區分哪一個(ge)更符(fu)合要求3C鋰電池測試要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部(bu)空間集成度高，pitch不斷縮小，pogopin探針模組在(zai)小pitch該領域(yu)適應性差(cha)(cha)，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之(zhi)間的pitch壽命和穩(wen)定(ding)性差(cha)(cha)。3C鋰電池(chi)測試(shi)對電流(liu)(liu)的需(xu)求很(hen)大(da)，pogopin探針模塊能(neng)承載的額定(ding)電流(liu)(liu)僅為1A，在(zai)傳輸過程中，電流(liu)(liu)會在(zai)不同位(wei)衰減，導致連接不穩(wen)定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組無論是面(mian)對(dui)(dui)小(xiao)間距還是大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，都(dou)有很(hen)好(hao)的應對(dui)(dui)方法(fa)。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領(ling)域，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)塊是可(ke)(ke)取(qu)的pitch值(zhi)在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)(xing)能穩(wen)定可(ke)(ke)靠(kao)。面(mian)對(dui)(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)試要(yao)求，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)塊可(ke)(ke)通過(guo)的額定電(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)(da)到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒(mei)有電(dian)(dian)流(liu)(liu)衰減，具有良好(hao)的連接功能，可(ke)(ke)以很(hen)大(da)(da)限度(du)地保障3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試的穩(wen)定性(xing)(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就(jiu)使用壽命(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)模塊的(de)試驗壽命(ming)在于5w大電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)(zu)的(de)試驗壽命(ming)約為20w以上，比(bi)較(jiao)pogopin探(tan)針(zhen)模塊整(zheng)(zheng)整(zheng)(zheng)多(duo)了(le)四倍!況且(qie)pogo pin探(tan)針(zhen)模塊為多(duo)組(zu)(zu)件結構(gou)，生(sheng)產工藝復雜，生(sheng)產難(nan)度高，交貨期長(chang);大電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)(zu)是一(yi)種集成(cheng)彈(dan)(dan)片(pian)結構(gou)，輕(qing)、扁平，可(ke)根(gen)據客戶要求定制，生(sheng)產難(nan)度低，交貨期短(duan)。相(xiang)比(bi)之(zhi)下(xia)，通(tong)大電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)(zu)的(de)成(cheng)本性能并不太(tai)高!

　　對比母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)(zuo)測試(shi)良(liang)率，pogopin針(zhen)對探(tan)針(zhen)模塊BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)(zuo)幾乎無法實現，穩定(ding)(ding)性極差。大部(bu)分(fen)采用觸摸(mo)方案對應，母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)(zuo)測試(shi)良(liang)率不到(dao)80%;母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)(zuo)上有一種特(te)別的(de)(de)通大電(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組對應方法。將斜口型(也稱尖頭(tou)型)彈片(pian)頭(tou)插入連(lian)接(jie)(jie)(jie)器內端子(zi)(zi)，以(yi)保持一定(ding)(ding)的(de)(de)開度，從(cong)而保障彈片(pian)的(de)(de)接(jie)(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)(jie)觸面BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器端子(zi)(zi)兩側保持接(jie)(jie)(jie)觸狀態，使(shi)測試(shi)穩定(ding)(ding)，母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)(zuo)測試(shi)良(liang)率達(da)到(dao)99.8%。

　　大電(dian)流彈片微針模組(zu)測試(shi)(shi)效率高(gao)，穩定性好。與同(tong)一產品測試(shi)(shi)前后相比，連(lian)接器基本上(shang)看不到刺痕(hen)，不會對(dui)產品造成任何損(sun)壞(huai)pogo pin電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)模塊更(geng)值得選擇和(he)信(xin)賴。