21世紀發(fa)展的(de)(de)理(li)想電(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用于 3C 也(ye)被稱為手機(ji)、平板電(dian)(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設備(bei)等(deng)領域，鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)能(neng)量(liang)密度高、電(dian)(dian)壓(ya)高、壽命長、無(wu)記憶(yi)效應等(deng)優(you)點，3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)是容(rong)易因(yin)短路、過充等(deng)原(yuan)因(yin)燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試(shi)是鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組(zu)裝的(de)(de)重(zhong)要環節，是實現鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)性能(neng)和安全靠(kao)譜使用的(de)(de)有(you)力(li)保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試(shi)項目(mu)主要包括一致(zhi)性、功能(neng)性、安全性、可靠(kao)性和工(gong)況模(mo)擬(ni)。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)。通過比(bi)較(jiao)兩者(zhe)的優缺點，我(wo)們(men)可以更(geng)直觀(guan)地(di)區分哪一個更(geng)符合要求3C鋰電池測試要求。

　　從目(mu)前的市場趨勢來看，3C電(dian)子產品內部空間集成度高，pitch不(bu)斷縮小(xiao)，pogopin探針模組在(zai)小(xiao)pitch該領(ling)域適(shi)應性差，只(zhi)能(neng)處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽(shou)命和(he)穩(wen)定性差。3C鋰電(dian)池測試對電(dian)流的需求很大(da)，pogopin探針模塊能(neng)承載(zai)的額定電(dian)流僅(jin)為(wei)1A，在(zai)傳輸過程中，電(dian)流會在(zai)不(bu)同位衰減，導致連(lian)接不(bu)穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)電(dian)(dian)流彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模組無論是面(mian)對(dui)小(xiao)間距(ju)還是大(da)(da)電(dian)(dian)流，都有(you)很(hen)好的(de)應對(dui)方法。在小(xiao)pitch在該領域，大(da)(da)電(dian)(dian)流彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)(kuai)是可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩(wen)定(ding)可靠。面(mian)對(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)流測試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)流彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模塊(kuai)(kuai)可通過(guo)的(de)額定(ding)電(dian)(dian)流大(da)(da)到(dao)50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)(dian)流衰減，具有(you)良好的(de)連接功能，可以很(hen)大(da)(da)限度地(di)保障3C鋰電(dian)(dian)池測試的(de)穩(wen)定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就(jiu)使(shi)用壽命而言，pogopin探針模塊的(de)(de)(de)試驗(yan)壽命在于(yu)5w大電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模組(zu)的(de)(de)(de)試驗(yan)壽命約為20w以上，比較pogopin探針模塊整整多了四倍!況且pogo pin探針模塊為多組(zu)件結構(gou)，生(sheng)產(chan)(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)(chan)難度高，交(jiao)貨期(qi)長(chang);大電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模組(zu)是一種集成彈片(pian)(pian)結構(gou)，輕、扁平，可根據客戶要求(qiu)定(ding)制，生(sheng)產(chan)(chan)難度低，交(jiao)貨期(qi)短。相比之下(xia)，通大電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模組(zu)的(de)(de)(de)成本(ben)性能并不太高!

　　對(dui)比母(mu)(mu)(mu)座(zuo)測試(shi)良(liang)率，pogopin針(zhen)對(dui)探針(zhen)模塊(kuai)BTB連接(jie)器母(mu)(mu)(mu)座(zuo)幾乎無法(fa)實現，穩(wen)定(ding)(ding)(ding)性極差。大部分采用(yong)觸(chu)摸方案對(dui)應，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)測試(shi)良(liang)率不到80%;母(mu)(mu)(mu)座(zuo)上有(you)一種特別的通大電(dian)流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組(zu)對(dui)應方法(fa)。將斜口型(xing)(也稱尖(jian)頭型(xing))彈(dan)片(pian)頭插入連接(jie)器內(nei)端(duan)子(zi)，以(yi)保持一定(ding)(ding)(ding)的開度，從而保障彈(dan)片(pian)的接(jie)觸(chu)面和接(jie)觸(chu)面BTB連接(jie)器端(duan)子(zi)兩(liang)側保持接(jie)觸(chu)狀態，使測試(shi)穩(wen)定(ding)(ding)(ding)，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)測試(shi)良(liang)率達到99.8%。

　　大(da)電流彈片微針模組測(ce)試(shi)效率高，穩(wen)定性好。與同(tong)一產(chan)品測(ce)試(shi)前后相比，連接器(qi)基本(ben)上看不(bu)到(dao)刺(ci)痕，不(bu)會(hui)對產(chan)品造成任何損(sun)壞pogo pin電池測(ce)試(shi)模塊更(geng)值得選擇(ze)和(he)信賴。