我們常看到的一些3C產(chan)品，里面都有安(an)(an)裝鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池具有高能(neng)量密度、高電(dian)(dian)(dian)壓、壽命(ming)長、無記(ji)(ji)憶效應(ying)等(deng)優點(dian)，是21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被稱為手(shou)機、平(ping)板電(dian)(dian)(dian)腦、筆(bi)記(ji)(ji)本電(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設(she)備等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池容易因(yin)短路(lu)、過充等(deng)原(yuan)因(yin)燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試是鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池制造和組裝的重要環節，是實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池性(xing)能(neng)和安(an)(an)全靠(kao)譜(pu)使(shi)用的有力(li)保(bao)障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試項目主要包括(kuo)一致性(xing)、功(gong)能(neng)性(xing)、安(an)(an)全性(xing)、靠(kao)譜(pu)性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電(dian)池測(ce)試(shi)對電(dian)池測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)的選擇很重要。目前市場上(shang)廣泛使用的電(dian)池測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)有(you)兩種(zhong)，一(yi)種(zhong)是(shi)凱(kai)智通大(da)電(dian)流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)，另一(yi)種(zhong)是(shi)pogo pin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)。通過比較兩者的優缺點(dian)，我們可以更(geng)直觀地(di)區分哪一(yi)個更(geng)符合要求3C鋰電(dian)池測(ce)試(shi)要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對(dui)小間距還是(shi)大(da)電(dian)流，大(da)電(dian)流彈(dan)(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)都有很好的(de)(de)應對(dui)方法。pitch在該領(ling)域，大(da)電(dian)流彈(dan)(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)是(shi)可取(qu)的(de)(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定靠譜。面對(dui)大(da)電(dian)流測試(shi)要求，大(da)電(dian)流彈(dan)(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)可通過(guo)的(de)(de)額定電(dian)流大(da)到50A，在1-50A電(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)流衰減(jian)，具有良(liang)好的(de)(de)連(lian)接功能，可以很大(da)限度地保(bao)障(zhang)3C鋰(li)電(dian)池測試(shi)的(de)(de)穩定性。

　　就使用壽命(ming)而言(yan)，pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)(kuai)的試驗(yan)壽命(ming)在于5w大電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)的試驗(yan)壽命(ming)約(yue)為(wei)20w以上(shang)，比(bi)較pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)(kuai)整整多(duo)了四倍！pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)(kuai)為(wei)多(duo)組件結構，生產工(gong)藝復雜(za)，生產難度高，交貨周(zhou)期長(chang)；大型電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)為(wei)一體(ti)化彈(dan)片(pian)結構，輕、扁平(ping)，可根據客戶(hu)要求定制，生產難度低，交貨周(zhou)期短。相比(bi)之下，大型電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)的成本性能并不(bu)太高！

　　對比母(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)良率，pogopin探針(zhen)(zhen)模組針(zhen)(zhen)對BTB連接(jie)(jie)器(qi)母(mu)座(zuo)幾(ji)乎(hu)無法實現(xian)，穩定(ding)性極差(cha)。大部(bu)分采用觸摸方案對應，母(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)良率不到(dao)80%；母(mu)座(zuo)上(shang)有(you)一種特別的(de)大電(dian)流彈(dan)(dan)片(pian)微針(zhen)(zhen)模塊對應方法。將斜口型（也稱尖頭型）彈(dan)(dan)片(pian)頭插入連接(jie)(jie)器(qi)內端(duan)子，以保(bao)持一定(ding)的(de)開度，從而保(bao)障彈(dan)(dan)片(pian)的(de)接(jie)(jie)觸面和(he)接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器(qi)端(duan)子兩側(ce)保(bao)持接(jie)(jie)觸狀態(tai)，使測(ce)(ce)試(shi)穩定(ding)，母(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)良率高(gao)達99.8%。

　
　大電流彈片微針模塊測試(shi)效率高，穩(wen)定性(xing)好(hao)。與同一產品測試(shi)前后相比，連接(jie)器基本(ben)上看不(bu)到刺痕，不(bu)會(hui)對產品造成任何損壞pogopin探針電池測試(shi)模塊更值(zhi)得選擇和信賴(lai)。