我們常看(kan)到的一(yi)些3C產品，里面都有安裝(zhuang)鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有高能(neng)量密度、高電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、壽(shou)命長(chang)、無記(ji)憶效應(ying)等優點，是21世紀發(fa)展的理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被稱為手(shou)機、平(ping)板電(dian)(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備等領(ling)域3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因(yin)短路、過充等原因(yin)燒毀或爆(bao)炸，所(suo)以很(hen)危險3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組裝(zhuang)的重要環節，是實現鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性能(neng)和安全靠譜(pu)使用的有力保(bao)障(zhang)，3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項目主要包括一(yi)致性、功能(neng)性、安全性、靠譜(pu)性和工況模擬(ni)。

　　3C鋰(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)對電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)(kuai)的選(xuan)擇(ze)很重要。目前市場(chang)上廣泛使用的電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)(kuai)有兩(liang)種(zhong)，一種(zhong)是(shi)凱智通大電(dian)流彈(dan)片微針模(mo)塊(kuai)(kuai)，另一種(zhong)是(shi)pogo pin探針模(mo)塊(kuai)(kuai)。通過(guo)比(bi)較兩(liang)者的優缺點(dian)，我們可以更直觀地區分(fen)哪一個更符(fu)合要求3C鋰(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小間(jian)距還是大(da)電流(liu)，大(da)電流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)(wei)針模塊(kuai)都有很好的應(ying)對方法。pitch在(zai)(zai)該領域，大(da)電流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)(wei)針模塊(kuai)是可取的pitch值在(zai)(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定靠譜。面對大(da)電流(liu)測試要求，大(da)電流(liu)彈(dan)片微(wei)(wei)(wei)針模塊(kuai)可通過(guo)的額(e)定電流(liu)大(da)到50A，在(zai)(zai)1-50A電阻恒定，幾乎沒有電流(liu)衰(shuai)減(jian)，具有良好的連接功能(neng)，可以很大(da)限度地保障(zhang)3C鋰電池(chi)測試的穩定性。

　　就使(shi)用壽命而言，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)試驗壽命在于5w大電流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)試驗壽命約為20w以(yi)上，比較(jiao)pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四倍！pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)為多組件結(jie)構，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難(nan)度(du)高，交貨(huo)周期長；大型電流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)為一(yi)體化彈片(pian)結(jie)構，輕、扁平，可根據(ju)客(ke)戶(hu)要求定制，生(sheng)產(chan)難(nan)度(du)低，交貨(huo)周期短。相比之下，大型電流(liu)彈片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)成本性能并不(bu)太高！

　　對(dui)(dui)比母(mu)座(zuo)測試(shi)良率，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對(dui)(dui)BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)(qi)母(mu)座(zuo)幾乎無法實(shi)現，穩(wen)定(ding)(ding)性極(ji)差。大部分(fen)采用觸摸(mo)方(fang)(fang)案對(dui)(dui)應(ying)，母(mu)座(zuo)測試(shi)良率不到(dao)80%；母(mu)座(zuo)上有一種特別的(de)大電流彈(dan)片微針(zhen)模塊對(dui)(dui)應(ying)方(fang)(fang)法。將(jiang)斜口型(xing)（也稱尖頭(tou)型(xing)）彈(dan)片頭(tou)插入(ru)連(lian)接(jie)(jie)器(qi)(qi)內端子，以保持(chi)(chi)一定(ding)(ding)的(de)開(kai)度，從而保障彈(dan)片的(de)接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)(qi)端子兩(liang)側保持(chi)(chi)接(jie)(jie)觸狀態，使測試(shi)穩(wen)定(ding)(ding)，母(mu)座(zuo)測試(shi)良率高(gao)達99.8%。

　
　大電(dian)流彈(dan)片微針模(mo)塊測(ce)試(shi)效率高，穩定性好。與同(tong)一(yi)產品測(ce)試(shi)前(qian)后相(xiang)比，連(lian)接器基本上看不到(dao)刺(ci)痕，不會對產品造成(cheng)任何損壞(huai)pogopin探針電(dian)池測(ce)試(shi)模(mo)塊更值(zhi)得選擇和信賴。