我們常看到(dao)的一(yi)些3C產品，里面都有安裝鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)具有高(gao)能(neng)量密度、高(gao)電(dian)(dian)壓、壽命長、無記憶效應等(deng)優點，是21世紀發展的理想電(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)可廣泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦(nao)、筆記本(ben)電(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設備等(deng)領域3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)容(rong)易因(yin)短(duan)路、過充等(deng)原因(yin)燒毀(hui)或爆炸，所以(yi)很(hen)危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測試(shi)(shi)是鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)制造和組裝的重要環(huan)節，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)性能(neng)和安全靠(kao)譜使用的有力(li)保障(zhang)，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測試(shi)(shi)項目(mu)主要包括一(yi)致性、功(gong)能(neng)性、安全性、靠(kao)譜性和工況模擬。

　　3C鋰電(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)對(dui)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)模塊(kuai)(kuai)的選(xuan)擇很重(zhong)要(yao)。目前市場上廣泛(fan)使(shi)用的電(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)模塊(kuai)(kuai)有兩(liang)種，一(yi)種是凱智(zhi)通(tong)大電(dian)流彈片微(wei)針模塊(kuai)(kuai)，另一(yi)種是pogo pin探針模塊(kuai)(kuai)。通(tong)過比較兩(liang)者的優(you)缺點，我們可以更直觀地(di)區(qu)分哪一(yi)個更符(fu)合要(yao)求3C鋰電(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小間距還(huan)是大電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)，大電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)都有(you)很(hen)好的(de)應對方法。pitch在(zai)該(gai)領域，大電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)是可取(qu)的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定靠譜。面對大電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)試(shi)要求(qiu)，大電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)(kuai)可通過的(de)額定電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)大到(dao)50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)恒定，幾乎沒有(you)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)衰(shuai)減，具有(you)良好的(de)連接功能，可以很(hen)大限度地(di)保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)測(ce)試(shi)的(de)穩定性(xing)。

　　就(jiu)使用壽命(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)試驗(yan)(yan)壽命(ming)在(zai)于5w大(da)電流彈片(pian)微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)試驗(yan)(yan)壽命(ming)約為(wei)20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)整整多了四(si)倍(bei)！pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)多組(zu)件結構(gou)，生(sheng)產(chan)工(gong)藝復雜，生(sheng)產(chan)難(nan)度高，交貨(huo)周期(qi)長；大(da)型電流彈片(pian)微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)一(yi)體(ti)化彈片(pian)結構(gou)，輕、扁平，可根據客戶要求定制，生(sheng)產(chan)難(nan)度低，交貨(huo)周期(qi)短。相比(bi)之下(xia)，大(da)型電流彈片(pian)微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)成本性能并(bing)不太高！

　　對(dui)比(bi)母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良率(lv)，pogopin探針模組針對(dui)BTB連接(jie)器母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無(wu)法(fa)實現，穩定性極(ji)差。大部(bu)分采用(yong)觸摸方案對(dui)應(ying)(ying)，母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良率(lv)不到80%；母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)上有一(yi)種特別(bie)的大電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微針模塊對(dui)應(ying)(ying)方法(fa)。將斜口型(xing)(xing)（也稱尖頭(tou)型(xing)(xing)）彈片(pian)(pian)頭(tou)插入(ru)連接(jie)器內端子，以(yi)保(bao)持一(yi)定的開度，從而保(bao)障(zhang)彈片(pian)(pian)的接(jie)觸面(mian)和(he)接(jie)觸面(mian)BTB連接(jie)器端子兩側保(bao)持接(jie)觸狀(zhuang)態，使測試穩定，母(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良率(lv)高達99.8%。

　
　大電流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)測試效(xiao)率高，穩(wen)定性好。與同一產(chan)品(pin)測試前(qian)后(hou)相比(bi)，連(lian)接器基本上(shang)看不到刺痕，不會(hui)對產(chan)品(pin)造成任何損壞pogopin探針(zhen)電池測試模(mo)塊(kuai)更值(zhi)得選擇(ze)和(he)信賴。