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pogopin探針模組和大電流彈片微針模組在鋰電池測試,會有哪些差別

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-04-20

  我(wo)們常看到(dao)的(de)一些3C產品,里面都有(you)安裝鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi),鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)具有(you)高能量(liang)密度、高電(dian)壓、壽命長(chang)、無記憶效應等(deng)優(you)點(dian),是21世(shi)紀發展的(de)理想電(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用于 3C 也(ye)被(bei)稱為手機、平(ping)板電(dian)腦、筆記本電(dian)腦、可穿(chuan)戴設備(bei)等(deng)領(ling)域3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)容易因短路、過充等(deng)原因燒毀或(huo)爆炸,所以很(hen)危險3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試是鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)制造(zao)和組裝的(de)重要(yao)環節,是實(shi)現鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)性能和安全靠譜使用的(de)有(you)力保(bao)障,3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試項目(mu)主要(yao)包括(kuo)一致性、功能性、安全性、靠譜性和工況(kuang)模擬。


  3C鋰(li)電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)對(dui)電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)模(mo)(mo)塊的選擇(ze)很重要。目前市場上廣(guang)泛使用(yong)的電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)模(mo)(mo)塊有兩種(zhong),一種(zhong)是(shi)凱智通大電流彈(dan)片微針(zhen)模(mo)(mo)塊,另(ling)一種(zhong)是(shi)pogo pin探針(zhen)模(mo)(mo)塊。通過比較兩者的優缺點,我們可以更直觀地區分哪一個更符合要求(qiu)3C鋰(li)電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)要求(qiu)。


  從目前的市場趨勢來看,3C電子產品內部空間集成度高,pitch不斷縮小,日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差,只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大,pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A,在傳輸過程中,電流會在不同位衰減,導致連接不穩定。

4pin貼片連接器 (2).jpg


  無論面(mian)對小間(jian)距(ju)還是(shi)大電(dian)流(liu),大電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)都有(you)很(hen)好的(de)應對方法(fa)。pitch在該(gai)領域,大電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)是(shi)可(ke)取的(de)pitch值(zhi)在0.15mm-0.4mm性能穩定靠譜。面(mian)對大電(dian)流(liu)測(ce)試要求,大電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)可(ke)通過(guo)的(de)額(e)定電(dian)流(liu)大到(dao)50A,在1-50A電(dian)阻恒定,幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)衰減,具有(you)良好的(de)連接功(gong)能,可(ke)以很(hen)大限(xian)度地保(bao)障3C鋰電(dian)池測(ce)試的(de)穩定性。


  就使用壽命(ming)(ming)而言,pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽命(ming)(ming)在(zai)于(yu)5w大(da)(da)電(dian)流彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽命(ming)(ming)約(yue)為(wei)20w以上,比較pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)整整多了(le)四(si)倍!pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)多組件(jian)結(jie)構,生產(chan)工藝復雜,生產(chan)難度高(gao),交貨周期長(chang);大(da)(da)型電(dian)流彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)一體化彈(dan)片(pian)(pian)結(jie)構,輕、扁平,可根據客(ke)戶要求定制,生產(chan)難度低,交貨周期短。相比之下,大(da)(da)型電(dian)流彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的成(cheng)本性能并不太高(gao)!


  對比母座測(ce)試(shi)(shi)良(liang)率,pogopin探(tan)針(zhen)模組針(zhen)對BTB連(lian)接(jie)器母座幾(ji)乎無法實(shi)現,穩定(ding)性極(ji)差。大部(bu)分采(cai)用觸(chu)(chu)摸方案對應,母座測(ce)試(shi)(shi)良(liang)率不到(dao)80%;母座上有一種特(te)別的大電流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模塊對應方法。將斜口(kou)型(也稱尖頭型)彈片(pian)頭插入連(lian)接(jie)器內端(duan)子,以保(bao)持一定(ding)的開度,從而保(bao)障(zhang)彈片(pian)的接(jie)觸(chu)(chu)面(mian)和接(jie)觸(chu)(chu)面(mian)BTB連(lian)接(jie)器端(duan)子兩側保(bao)持接(jie)觸(chu)(chu)狀態(tai),使測(ce)試(shi)(shi)穩定(ding),母座測(ce)試(shi)(shi)良(liang)率高達99.8%。

 
 大電流彈片微針模塊(kuai)測(ce)試(shi)效率(lv)高(gao),穩定性好。與同一產品測(ce)試(shi)前后(hou)相比,連接器基本上看不(bu)到(dao)刺痕,不(bu)會對產品造成任何損(sun)壞(huai)pogopin探針電池測(ce)試(shi)模塊(kuai)更值得選擇(ze)和信賴。

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