我們常看到的一些3C產(chan)品，里面都有安裝(zhuang)鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)具有高能(neng)量密度、高電(dian)(dian)壓、壽命長(chang)、無記(ji)憶效應等(deng)優點，是21世(shi)紀發展的理想電(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)可(ke)廣(guang)泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備(bei)等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)容易因短路、過(guo)充(chong)等(deng)原因燒毀或爆炸，所以很(hen)危險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)測試是鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)制造(zao)和(he)組裝(zhuang)的重要(yao)環節，是實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)性能(neng)和(he)安全(quan)靠(kao)(kao)譜使用的有力保(bao)障(zhang)，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)測試項(xiang)目(mu)主(zhu)要(yao)包括一致性、功能(neng)性、安全(quan)性、靠(kao)(kao)譜性和(he)工況模擬。

　　3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試(shi)(shi)(shi)對電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試(shi)(shi)(shi)模塊(kuai)的選(xuan)擇很重要。目前市場上廣泛使用(yong)的電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試(shi)(shi)(shi)模塊(kuai)有兩種(zhong)，一(yi)(yi)種(zhong)是凱(kai)智(zhi)通(tong)大電(dian)流(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊(kuai)，另一(yi)(yi)種(zhong)是pogo pin探針(zhen)模塊(kuai)。通(tong)過比(bi)較兩者的優缺(que)點，我(wo)們可以(yi)更(geng)直觀地(di)區分(fen)哪一(yi)(yi)個(ge)更(geng)符(fu)合要求(qiu)3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)測(ce)試(shi)(shi)(shi)要求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓精品極品視頻在線觀看免費:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小(xiao)間距還是大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊都有很好的(de)(de)(de)應(ying)對方法。pitch在該領(ling)域，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊是可(ke)取的(de)(de)(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能(neng)穩(wen)(wen)定(ding)靠譜(pu)。面對大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)測試(shi)要求(qiu)，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)塊可(ke)通過(guo)的(de)(de)(de)額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)大(da)(da)(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒(heng)定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良好的(de)(de)(de)連接功能(neng)，可(ke)以很大(da)(da)(da)限度地保(bao)障(zhang)3C鋰電(dian)(dian)池測試(shi)的(de)(de)(de)穩(wen)(wen)定(ding)性。

　　就使用(yong)壽(shou)(shou)命而言，pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊的試驗(yan)壽(shou)(shou)命在(zai)于5w大(da)電流彈片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊的試驗(yan)壽(shou)(shou)命約為(wei)20w以上，比較pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊整整多了四倍！pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊為(wei)多組件結(jie)構(gou)，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難度高，交貨周(zhou)期長；大(da)型電流彈片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊為(wei)一(yi)體化彈片結(jie)構(gou)，輕(qing)、扁(bian)平，可根據客戶要求定(ding)制，生(sheng)產(chan)難度低，交貨周(zhou)期短。相比之下，大(da)型電流彈片微(wei)(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊的成本性(xing)能并不太高！

　　對比母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)(shi)良(liang)率，pogopin探(tan)針(zhen)模組針(zhen)對BTB連(lian)接(jie)器(qi)母(mu)(mu)座(zuo)幾乎(hu)無法實(shi)現(xian)，穩(wen)定(ding)性極差。大(da)部分采用觸(chu)摸方(fang)案對應(ying)，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)(shi)良(liang)率不到80%；母(mu)(mu)座(zuo)上有一(yi)種特(te)別的大(da)電流彈(dan)片微針(zhen)模塊對應(ying)方(fang)法。將斜口(kou)型（也稱尖頭型）彈(dan)片頭插入連(lian)接(jie)器(qi)內端子，以保(bao)(bao)持一(yi)定(ding)的開(kai)度，從而保(bao)(bao)障彈(dan)片的接(jie)觸(chu)面(mian)和接(jie)觸(chu)面(mian)BTB連(lian)接(jie)器(qi)端子兩(liang)側保(bao)(bao)持接(jie)觸(chu)狀態(tai)，使測(ce)試(shi)(shi)穩(wen)定(ding)，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)(shi)良(liang)率高達99.8%。

　
　大電(dian)流彈片(pian)微針模塊測(ce)試效(xiao)率(lv)高，穩定性(xing)好。與同一產品測(ce)試前(qian)后相比，連(lian)接器基本上看不到刺痕，不會對產品造成任何(he)損壞pogopin探針電(dian)池測(ce)試模塊更值得選擇和(he)信賴。