關于BTB/FPC母座(zuo)connector測試，目前大部(bu)份的企業、廠(chang)商采(cai)用(yong)輕觸計劃降(jiang)臨時應對；運用(yong)pogo pin的廠(chang)商測試母座(zuo)時，只能接(jie)觸連接(jie)器端子(zi)頂點(dian)位置(zhi)，接(jie)觸區域面積小，接(jie)觸方式為點(dian)對點(dian)，相對彈(dan)片接(jie)觸面小，易磨損及運用(yong)次數到一(yi)定的壽命(ming)后易接(jie)觸不良(liang)，招(zhao)致誤測等(deng)現象。

　　pogopin是由(you)彈(dan)簧、針管、針軸三個根本部(bu)件預壓之后構成(cheng)的彈(dan)簧式(shi)探針；它(ta)自身由(you)幾個部(bu)件制造(zao)、裝配、涂裝而成(cheng)，工藝程序復雜，但運用壽命仍然不高；由(you)于pogopin自身存(cun)在的一些問題，在實踐(jian)操作針對BTB母座(zuo)connector測試時，我們理解到一些廠商的實踐(jian)狀況：

　　1.測試不穩定，pogopin自(zi)身(shen)是(shi)多(duo)配件構造，接(jie)觸(chu)點多(duo)，易產(chan)生接(jie)觸(chu)不穩定、阻(zu)抗(kang)分歧(qi)性低等問題；

　　2.測試(shi)時探針經常性扎歪，然(ran)后(hou)需(xu)求人(ren)員重新進(jin)行探針調整，糜費了大量(liang)的時間和人(ren)工本錢(qian)；

　　3.卡PIN：同(tong)樣由于由多構造組(zu)合而成，這個在pogopin身上是防止(zhi)不了的問題；

　　4.極易斷針(zhen)：隨著pitch的(de)(de)減少，pogo的(de)(de)針(zhen)徑也(ye)越來越小，使得探針(zhen)的(de)(de)斷針(zhen)風(feng)險逐步增(zeng)加；

　　5.運用(yong)(yong)壽(shou)命(ming)很短(duan)：探針的(de)運用(yong)(yong)壽(shou)命(ming)均在30000次(ci)以下(xia)，并容易磨損(sun)，運用(yong)(yong)次(ci)數到(dao)一(yi)定(ding)的(de)壽(shou)命(ming)后易招致(zhi)接觸不良、誤測(ce)等現象；

　　以上狀況(kuang)相對呈現(xian)率(lv)較(jiao)高(gao)，針(zhen)對以上的(de)狀況(kuang)，自然導致企業(ye)本錢(qian)的(de)增加，測試(shi)穩定性差，良品率(lv)低(di)等問題。

　　針對以(yi)上(shang)運(yun)用pogo測試BTB母座connector，下面簡單引見幾(ji)個方面：

　　1.彈片(pian)微針模組有一(yi)體成型，后期加硬鍍金處置(zhi)，接觸外形（可定制化(hua)(hua)）很容易依照客戶請求(qiu)制造；彈片(pian)為一(yi)體化(hua)(hua)構造，減少(shao)了(le)接觸點，防止產生接觸不(bu)穩定、阻(zu)抗分(fen)歧性低等問(wen)題；

　　2.在測試(shi)母座時(shi)(shi)，彈片(pian)頭(tou)部(bu)插(cha)入(ru)連接器內端子，使其產生一定(ding)的張開量，這樣能夠保障(zhang)彈片(pian)接觸(chu)面(mian)與BTB連接器端子兩面(mian)不斷堅持接觸(chu)狀態；測試(shi)公(gong)座時(shi)(shi)，鋸齒(chi)型(xing)彈片(pian)大(da)面(mian)積充沛和連接器接觸(chu)點接觸(chu)，保障(zhang)測試(shi)穩定(ding)；

　　3.電(dian)傳(chuan)播導于同一資(zi)料體(ti)內，電(dian)阻恒定，簡直沒有電(dian)流(liu)衰(shuai)減，具(ju)有更好的銜接功用，額定電(dian)流(liu)為3A；

　　4.由于一(yi)體成型，完整不會呈現(xian)卡pin現(xian)象，并且運用壽命能到達30萬次以上；

　　5.測試(shi)母座(zuo)時，定制的(de)斜口性彈(dan)片(pian)的(de)頭部插入(ru)BTB連接器(qi)內彈(dan)片(pian)啟齒之間，對(dui)BTB連接器(qi)彈(dan)片(pian)產生一定的(de)張開量，微針模(mo)組彈(dan)片(pian)接觸(chu)面與BTB連接器(qi)彈(dan)片(pian)兩面不(bu)斷堅持接觸(chu)狀態，微針模(mo)組彈(dan)片(pian)頭型自清潔設計免維護保障長期穩定性；

　　6.一(yi)體式設計，準確度高，完整(zheng)不會呈(cheng)現扎歪的問題；

　　7.大電(dian)流BTB彈片微針模組的(de)測試(shi)良(liang)率(lv)能到(dao)達99.5%；

　　8.能更好的(de)應(ying)對pitch≤0.2mm的(de)范疇；

　　9.運用(yong)彈片微(wei)針模組（blade block）在同(tong)一模組，測試(shi)前和(he)測試(shi)20次后，連接(jie)器(qi)上根本看不到任何(he)扎痕；

　　針對市場(chang)上，企業運用pogopin一系列的(de)問題，我們自主(zhu)創新(xin)的(de)大(da)電流BTB彈片微針模組（blade block）的(de)處(chu)理計劃能更(geng)好的(de)應對，協(xie)助(zhu)企業儉省本錢。

　　相較于(yu)目(mu)前市場上的痛點，大電(dian)流彈(dan)片微針模組(zu)（blade block），一體成型(xing)的彈(dan)片根卡pin、銜接穩(wen)(wen)定(ding)(ding)性差(cha)、斷針，接觸(chu)外形(xing)可定(ding)(ding)制化防止了產生接觸(chu)不穩(wen)(wen)定(ding)(ding)、阻抗分歧性低，能(neng)應對(dui)pitch≤0.2mm、測試效率(lv)高、穩(wen)(wen)定(ding)(ding)性高、能(neng)兼容小pitch BTB公母座穩(wen)(wen)定(ding)(ding)且牢靠(kao)、能(neng)接受(shou)的頂點為50A大電(dian)流、運用壽命更長、快速出樣、訂貨(huo)周期短等優點。