關(guan)于BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)試(shi)(shi)，目前大部份的企業、廠商采(cai)用(yong)輕觸計劃降臨時(shi)應(ying)對；運(yun)用(yong)pogo pin的廠商測(ce)試(shi)(shi)母(mu)座時(shi)，只能接(jie)觸連接(jie)器(qi)端子頂點位置(zhi)，接(jie)觸區域面積小，接(jie)觸方式為點對點，相(xiang)對彈片接(jie)觸面小，易磨(mo)損及運(yun)用(yong)次數到一定的壽命后易接(jie)觸不(bu)良，招(zhao)致誤測(ce)等現象(xiang)。

　　pogopin是由彈(dan)簧(huang)、針管、針軸三個(ge)根本部件(jian)(jian)預壓之后構成的(de)彈(dan)簧(huang)式探針；它自(zi)身(shen)由幾個(ge)部件(jian)(jian)制造、裝(zhuang)配、涂裝(zhuang)而成，工藝程序(xu)復雜，但運用壽命仍(reng)然不高(gao)；由于pogopin自(zi)身(shen)存在的(de)一些(xie)(xie)問題，在實踐(jian)(jian)操作(zuo)針對BTB母座connector測(ce)試時，我(wo)們理(li)解到一些(xie)(xie)廠商的(de)實踐(jian)(jian)狀況：

　　1.測試不(bu)穩定(ding)，pogopin自身是多(duo)配件構造，接觸點多(duo)，易產生接觸不(bu)穩定(ding)、阻抗分歧性(xing)低等(deng)問題；

　　2.測試時(shi)探針經常(chang)性扎歪，然后需求人員重(zhong)新進(jin)行探針調整，糜費了大量的時(shi)間和人工本錢；

　　3.卡PIN：同(tong)樣(yang)由于由多構造組合(he)而成，這(zhe)個在pogopin身(shen)上(shang)是防止不了的問題；

　　4.極易斷針(zhen)：隨著pitch的減(jian)少，pogo的針(zhen)徑也(ye)越(yue)來越(yue)小，使得探針(zhen)的斷針(zhen)風險逐步增(zeng)加；

　　5.運用壽命很(hen)短：探針的運用壽命均在(zai)30000次以(yi)下，并容(rong)易(yi)磨損，運用次數到一定的壽命后易(yi)招致接觸不良、誤測等(deng)現象；

　　以上(shang)狀(zhuang)況相對呈(cheng)現(xian)率(lv)較高，針對以上(shang)的狀(zhuang)況，自然(ran)導致企業本錢的增加，測(ce)試穩定性差，良品率(lv)低等問題。

　　針對以(yi)上(shang)運用pogo測(ce)試BTB母座(zuo)connector，下面簡(jian)單(dan)引見幾個方面：

　　1.彈片(pian)微針模組有(you)一(yi)體成型，后期加(jia)硬鍍金處置，接觸(chu)外形（可定(ding)制(zhi)化）很容易依照客戶請求制(zhi)造；彈片(pian)為一(yi)體化構造，減少(shao)了接觸(chu)點(dian)，防止產(chan)生接觸(chu)不(bu)穩(wen)定(ding)、阻抗分歧(qi)性低(di)等問題；

　　2.在測試母座時(shi)，彈(dan)片(pian)頭部插(cha)入連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)內端子(zi)(zi)，使(shi)其產(chan)生(sheng)一定(ding)的張開量(liang)，這樣(yang)能夠保障(zhang)彈(dan)片(pian)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)面(mian)與BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)端子(zi)(zi)兩面(mian)不(bu)斷堅持接(jie)(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai)；測試公座時(shi)，鋸齒型彈(dan)片(pian)大面(mian)積充沛和連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)點接(jie)(jie)(jie)觸(chu)，保障(zhang)測試穩(wen)定(ding)；

　　3.電(dian)傳播(bo)導于同一資料體內，電(dian)阻恒定，簡(jian)直(zhi)沒有(you)電(dian)流衰減，具有(you)更好的銜(xian)接功用，額定電(dian)流為(wei)3A；

　　4.由于一體(ti)成型，完整不會呈現卡pin現象，并且運(yun)用(yong)壽(shou)命能到達(da)30萬次以上；

　　5.測試母座時，定(ding)制(zhi)的(de)斜口性彈片(pian)的(de)頭(tou)部插入(ru)BTB連接(jie)器(qi)內彈片(pian)啟齒之(zhi)間，對BTB連接(jie)器(qi)彈片(pian)產生一定(ding)的(de)張開量(liang)，微針模組彈片(pian)接(jie)觸(chu)面與BTB連接(jie)器(qi)彈片(pian)兩面不斷堅持(chi)接(jie)觸(chu)狀態(tai)，微針模組彈片(pian)頭(tou)型自清潔設計免維護保障長期穩定(ding)性；

　　6.一體式設計，準(zhun)確(que)度(du)高，完(wan)整不(bu)會(hui)呈(cheng)現扎歪的問題；

　　7.大電流(liu)BTB彈片(pian)微針模組的測試良率能到達99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片(pian)微針(zhen)模組（blade block）在同一模組，測試前和測試20次(ci)后，連接器上(shang)根本看(kan)不(bu)到(dao)任(ren)何扎痕；

　　針(zhen)對(dui)市場(chang)上(shang)，企業運用pogopin一系列的問題，我們自主創(chuang)新(xin)的大電流(liu)BTB彈片微針(zhen)模(mo)組（blade block）的處理計劃能更好的應對(dui)，協助企業儉省本(ben)錢。

　　相較于目前市場上的(de)痛點，大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片微針(zhen)模組(zu)（blade block），一體成(cheng)型(xing)的(de)彈(dan)片根卡pin、銜接(jie)穩定性差、斷針(zhen)，接(jie)觸外形可定制化防止(zhi)了產生接(jie)觸不穩定、阻抗分歧(qi)性低，能應對pitch≤0.2mm、測(ce)試效率高(gao)(gao)、穩定性高(gao)(gao)、能兼容(rong)小pitch BTB公母座穩定且牢靠、能接(jie)受的(de)頂點為50A大(da)電(dian)流(liu)、運用壽命(ming)更(geng)長、快速出樣、訂貨周期短等優點。