關于(yu)BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)試，目前大部份的(de)企(qi)業、廠商采用輕觸(chu)計劃降臨時應對；運用pogo pin的(de)廠商測(ce)試母(mu)座時，只能接(jie)觸(chu)連(lian)接(jie)器端(duan)子頂點(dian)位置，接(jie)觸(chu)區域面積小，接(jie)觸(chu)方(fang)式(shi)為點(dian)對點(dian)，相對彈片(pian)接(jie)觸(chu)面小，易磨損及運用次數到一(yi)定(ding)的(de)壽命(ming)后易接(jie)觸(chu)不良，招致誤測(ce)等現象。

　　pogopin是由(you)(you)(you)彈(dan)簧(huang)、針(zhen)管、針(zhen)軸三個(ge)根本部(bu)(bu)件(jian)預壓之后構成的(de)彈(dan)簧(huang)式探(tan)針(zhen)；它(ta)自(zi)身由(you)(you)(you)幾個(ge)部(bu)(bu)件(jian)制造、裝(zhuang)(zhuang)配、涂(tu)裝(zhuang)(zhuang)而成，工藝程序復雜，但運用壽命(ming)仍然不高(gao)；由(you)(you)(you)于pogopin自(zi)身存在的(de)一些問題，在實踐(jian)(jian)操作針(zhen)對BTB母座connector測試時，我們理解到一些廠商(shang)的(de)實踐(jian)(jian)狀況：

　　1.測試(shi)不穩定，pogopin自身是(shi)多配件構造(zao)，接觸(chu)點多，易產生接觸(chu)不穩定、阻抗(kang)分歧(qi)性低等(deng)問題；

　　2.測試時探針經常性扎(zha)歪，然后需求人員重新進行探針調(diao)整，糜費(fei)了大量的時間和人工(gong)本錢；

　　3.卡PIN：同樣由于(yu)由多構造組合而成，這個在pogopin身上是防(fang)止不(bu)了的問題；

　　4.極易斷針(zhen)(zhen)(zhen)：隨著pitch的減少，pogo的針(zhen)(zhen)(zhen)徑也越來越小，使得探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)的斷針(zhen)(zhen)(zhen)風險(xian)逐(zhu)步增加；

　　5.運用壽(shou)命(ming)(ming)很短：探針(zhen)的(de)運用壽(shou)命(ming)(ming)均在(zai)30000次(ci)以下，并容易磨損，運用次(ci)數到一定的(de)壽(shou)命(ming)(ming)后易招致(zhi)接觸不(bu)良、誤測等現象；

　　以上狀(zhuang)況相對呈(cheng)現率(lv)較(jiao)高(gao)，針(zhen)對以上的狀(zhuang)況，自然導致企業本錢(qian)的增加，測試穩定性差，良品率(lv)低(di)等問題。

　　針(zhen)對以上(shang)運用pogo測試BTB母座(zuo)connector，下面(mian)簡(jian)單(dan)引見幾個方(fang)面(mian)：

　　1.彈(dan)片微針模(mo)組有一(yi)(yi)體成型(xing)，后期(qi)加硬(ying)鍍金處置，接觸(chu)外形（可定(ding)制(zhi)化）很容易依照客戶(hu)請求制(zhi)造；彈(dan)片為一(yi)(yi)體化構(gou)造，減(jian)少了(le)接觸(chu)點，防(fang)止(zhi)產生接觸(chu)不穩定(ding)、阻(zu)抗分歧性低等問題；

　　2.在測試母座(zuo)時(shi)，彈(dan)片(pian)頭部插入(ru)連接(jie)(jie)器內(nei)端(duan)子，使其產生一定的張開量，這樣能夠(gou)保障彈(dan)片(pian)接(jie)(jie)觸面與(yu)BTB連接(jie)(jie)器端(duan)子兩面不斷(duan)堅持接(jie)(jie)觸狀態；測試公座(zuo)時(shi)，鋸齒型彈(dan)片(pian)大面積充沛和連接(jie)(jie)器接(jie)(jie)觸點接(jie)(jie)觸，保障測試穩定；

　　3.電(dian)傳(chuan)播導于同(tong)一資料體(ti)內，電(dian)阻恒定(ding)，簡直(zhi)沒有(you)電(dian)流(liu)衰減(jian)，具有(you)更好(hao)的銜接功(gong)用(yong)，額(e)定(ding)電(dian)流(liu)為3A；

　　4.由于一體成(cheng)型，完整不會呈現卡pin現象(xiang)，并且(qie)運用壽(shou)命能到(dao)達(da)30萬次以上(shang)；

　　5.測試母座時，定制的斜口(kou)性彈(dan)(dan)片的頭部插(cha)入(ru)BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)內彈(dan)(dan)片啟齒之(zhi)間(jian)，對BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)彈(dan)(dan)片產生一(yi)定的張開量，微針模組(zu)彈(dan)(dan)片接(jie)(jie)觸(chu)面與BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)彈(dan)(dan)片兩面不斷堅(jian)持接(jie)(jie)觸(chu)狀態，微針模組(zu)彈(dan)(dan)片頭型自清潔(jie)設計免維護(hu)保障長期(qi)穩定性；

　　6.一體式設計，準確度高，完(wan)整不會呈現(xian)扎歪的問題；

　　7.大電流BTB彈片微針(zhen)模組的測試(shi)良(liang)率能到達99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范(fan)疇(chou)；

　　9.運用彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)組（blade block）在(zai)同一模(mo)組，測試前和測試20次后，連接(jie)器(qi)上根本(ben)看不到任(ren)何扎痕；

　　針(zhen)對市場上，企(qi)業運用pogopin一系列的(de)問(wen)題(ti)，我們自(zi)主創新的(de)大電(dian)流BTB彈片(pian)微針(zhen)模組(zu)（blade block）的(de)處理(li)計劃能更(geng)好的(de)應(ying)對，協(xie)助企(qi)業儉省本(ben)錢。

　　相較于目前市場上的痛點(dian)，大電(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模組（blade block），一(yi)體成型的彈(dan)片根卡pin、銜接穩(wen)定(ding)性差、斷(duan)針(zhen)，接觸外形可定(ding)制(zhi)化防止了產生接觸不穩(wen)定(ding)、阻抗分歧性低，能(neng)應對pitch≤0.2mm、測試效(xiao)率高、穩(wen)定(ding)性高、能(neng)兼容小pitch BTB公(gong)母座穩(wen)定(ding)且(qie)牢靠、能(neng)接受的頂點(dian)為50A大電(dian)流、運用(yong)壽(shou)命更長、快速出樣(yang)、訂貨周期短(duan)等優點(dian)。