關于BTB/FPC母座connector測試，目(mu)前大部份的(de)(de)企業、廠(chang)商采(cai)用(yong)輕觸(chu)計劃降臨時(shi)應對(dui)；運用(yong)pogo pin的(de)(de)廠(chang)商測試母座時(shi)，只能接(jie)觸(chu)連接(jie)器端(duan)子頂點位(wei)置，接(jie)觸(chu)區域(yu)面積小(xiao)，接(jie)觸(chu)方式為(wei)點對(dui)點，相對(dui)彈片接(jie)觸(chu)面小(xiao)，易磨損及運用(yong)次數到一定的(de)(de)壽命后易接(jie)觸(chu)不良，招(zhao)致誤(wu)測等現象。

　　pogopin是由(you)彈(dan)簧、針(zhen)(zhen)(zhen)管、針(zhen)(zhen)(zhen)軸(zhou)三個根本部(bu)件(jian)預壓之后構成(cheng)的彈(dan)簧式(shi)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)；它(ta)自身由(you)幾個部(bu)件(jian)制造、裝配、涂裝而成(cheng)，工(gong)藝(yi)程序復(fu)雜，但運用壽命仍然不高；由(you)于pogopin自身存在(zai)(zai)的一些問題(ti)，在(zai)(zai)實踐操(cao)作針(zhen)(zhen)(zhen)對BTB母座connector測(ce)試時(shi)，我(wo)們理解到一些廠商的實踐狀況：

　　1.測試不穩(wen)定(ding)，pogopin自身是多配件構造，接觸(chu)點多，易產(chan)生(sheng)接觸(chu)不穩(wen)定(ding)、阻抗分歧性低等問(wen)題；

　　2.測(ce)試(shi)時探(tan)針經常性扎歪，然后(hou)需求人(ren)(ren)員重新進行探(tan)針調(diao)整，糜費了(le)大量的時間和人(ren)(ren)工本錢；

　　3.卡PIN：同樣由于由多構造組合而成(cheng)，這個在pogopin身上是防止不了的問題；

　　4.極易斷針：隨著(zhu)pitch的減少，pogo的針徑也越(yue)來越(yue)小，使得探針的斷針風險逐步增加；

　　5.運用壽(shou)命很短：探針的運用壽(shou)命均在30000次(ci)以(yi)下，并容易磨損，運用次(ci)數到一定的壽(shou)命后(hou)易招致接觸不良(liang)、誤測等現象(xiang)；

　　以上狀(zhuang)況相對(dui)呈(cheng)現(xian)率較(jiao)高，針對(dui)以上的(de)狀(zhuang)況，自然導致企業本錢的(de)增加，測試(shi)穩定性差，良品率低(di)等問題。

　　針對以(yi)上運用pogo測試BTB母座connector，下(xia)面簡單(dan)引見幾個方(fang)面：

　　1.彈片(pian)微(wei)針模組有一(yi)體(ti)成型，后(hou)期加(jia)硬鍍金處置，接(jie)觸(chu)(chu)外形(xing)（可定制化）很(hen)容(rong)易依照客戶請求(qiu)制造；彈片(pian)為一(yi)體(ti)化構造，減少了接(jie)觸(chu)(chu)點(dian)，防止產生接(jie)觸(chu)(chu)不穩(wen)定、阻(zu)抗(kang)分歧性低等問題；

　　2.在測(ce)(ce)試母座(zuo)時(shi)，彈(dan)(dan)片(pian)頭部插入連(lian)接(jie)器內端(duan)子(zi)(zi)，使(shi)其產(chan)生一定的張(zhang)開量，這樣能夠(gou)保障彈(dan)(dan)片(pian)接(jie)觸(chu)(chu)面與BTB連(lian)接(jie)器端(duan)子(zi)(zi)兩(liang)面不斷(duan)堅持(chi)接(jie)觸(chu)(chu)狀態；測(ce)(ce)試公座(zuo)時(shi)，鋸齒型彈(dan)(dan)片(pian)大面積充沛和連(lian)接(jie)器接(jie)觸(chu)(chu)點接(jie)觸(chu)(chu)，保障測(ce)(ce)試穩定；

　　3.電(dian)(dian)傳(chuan)播導于(yu)同一資料體內，電(dian)(dian)阻恒定(ding)，簡直沒有電(dian)(dian)流衰減，具有更(geng)好(hao)的銜(xian)接功用(yong)，額定(ding)電(dian)(dian)流為(wei)3A；

　　4.由(you)于一體成型，完整不會呈現卡pin現象(xiang)，并且運用壽命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試母座時，定制的(de)斜口性彈(dan)片(pian)(pian)的(de)頭部插入BTB連(lian)接(jie)器(qi)內(nei)彈(dan)片(pian)(pian)啟齒之間，對BTB連(lian)接(jie)器(qi)彈(dan)片(pian)(pian)產(chan)生一定的(de)張開量，微針模(mo)組彈(dan)片(pian)(pian)接(jie)觸面(mian)與BTB連(lian)接(jie)器(qi)彈(dan)片(pian)(pian)兩面(mian)不(bu)斷堅持接(jie)觸狀態，微針模(mo)組彈(dan)片(pian)(pian)頭型自清潔設(she)計免維(wei)護(hu)保障(zhang)長期穩定性；

　　6.一體(ti)式設計，準確度高，完整不(bu)會呈現扎歪的(de)問題(ti)；

　　7.大電(dian)流(liu)BTB彈片微針模組的(de)測(ce)試(shi)良率(lv)能到達99.5%；

　　8.能(neng)更好的應(ying)對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片微針模組（blade block）在(zai)同一模組，測(ce)試(shi)前和測(ce)試(shi)20次后，連接器上根本(ben)看(kan)不到任何扎痕；

　　針(zhen)對(dui)市(shi)場上，企業(ye)(ye)運(yun)用(yong)pogopin一系列的問題，我們自主(zhu)創(chuang)新的大(da)電流BTB彈片(pian)微針(zhen)模組（blade block）的處理計劃能更好的應對(dui)，協助企業(ye)(ye)儉省本錢(qian)。

　　相較(jiao)于目(mu)前市場上的痛(tong)點(dian)，大電(dian)流彈(dan)片微針(zhen)模(mo)組（blade block），一體成型的彈(dan)片根卡(ka)pin、銜接(jie)穩定(ding)性(xing)差、斷(duan)針(zhen)，接(jie)觸外形(xing)可定(ding)制化(hua)防止(zhi)了(le)產生(sheng)接(jie)觸不(bu)穩定(ding)、阻抗分(fen)歧性(xing)低(di)，能(neng)應對pitch≤0.2mm、測試效率(lv)高、穩定(ding)性(xing)高、能(neng)兼容小pitch BTB公(gong)母(mu)座穩定(ding)且(qie)牢(lao)靠、能(neng)接(jie)受的頂(ding)點(dian)為50A大電(dian)流、運用(yong)壽命更長、快(kuai)速(su)出(chu)樣、訂貨周期短等(deng)優點(dian)。