關于BTB/FPC母(mu)(mu)座connector測(ce)試(shi)，目前大部份的企業、廠(chang)商采用輕觸計劃降臨時應對(dui)(dui)；運(yun)用pogo pin的廠(chang)商測(ce)試(shi)母(mu)(mu)座時，只能接(jie)(jie)(jie)觸連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)端子頂(ding)點(dian)位置，接(jie)(jie)(jie)觸區域面積小(xiao)(xiao)，接(jie)(jie)(jie)觸方式為點(dian)對(dui)(dui)點(dian)，相對(dui)(dui)彈(dan)片接(jie)(jie)(jie)觸面小(xiao)(xiao)，易磨損及運(yun)用次(ci)數到一定的壽(shou)命后易接(jie)(jie)(jie)觸不良，招(zhao)致誤測(ce)等現象。

　　pogopin是由(you)彈(dan)簧(huang)、針管、針軸三個(ge)根本(ben)部(bu)件預壓之后構成(cheng)的(de)彈(dan)簧(huang)式探針；它(ta)自(zi)身(shen)由(you)幾個(ge)部(bu)件制造、裝(zhuang)配(pei)、涂裝(zhuang)而成(cheng)，工藝程序(xu)復雜(za)，但運(yun)用壽命(ming)仍然不高；由(you)于pogopin自(zi)身(shen)存在的(de)一些(xie)問(wen)題，在實踐操作針對BTB母(mu)座connector測試時，我們(men)理解到一些(xie)廠商的(de)實踐狀況：

　　1.測試不穩(wen)定(ding)，pogopin自身(shen)是多配(pei)件構(gou)造，接觸(chu)點(dian)多，易(yi)產生接觸(chu)不穩(wen)定(ding)、阻抗分歧(qi)性低等問題；

　　2.測試時探(tan)針經常性扎歪，然后需求人員重新進行探(tan)針調整，糜費了大量的時間和人工本錢；

　　3.卡PIN：同樣由于由多構造組合而成，這個在pogopin身上是(shi)防止不了的問(wen)題；

　　4.極易斷(duan)針：隨著pitch的減少，pogo的針徑也越(yue)(yue)來越(yue)(yue)小，使得探針的斷(duan)針風險逐步增(zeng)加；

　　5.運(yun)(yun)用壽(shou)(shou)命很短：探針的運(yun)(yun)用壽(shou)(shou)命均在30000次以下，并容易磨損(sun)，運(yun)(yun)用次數到一定的壽(shou)(shou)命后易招致接觸不良、誤測等現(xian)象；

　　以(yi)上狀(zhuang)況(kuang)相對呈現率較高，針對以(yi)上的狀(zhuang)況(kuang)，自然導致企業本錢的增加，測試穩定性(xing)差，良品率低等問題。

　　針對以上(shang)運用pogo測試BTB母座connector，下面簡(jian)單引見幾個方面：

　　1.彈片微針模組有一體(ti)(ti)成(cheng)型，后(hou)期加硬(ying)鍍(du)金(jin)處置，接(jie)觸外(wai)形（可定制(zhi)化(hua)）很(hen)容易(yi)依照(zhao)客戶(hu)請求制(zhi)造；彈片為一體(ti)(ti)化(hua)構造，減少了(le)接(jie)觸點，防止產生接(jie)觸不穩定、阻抗(kang)分歧(qi)性低等問題；

　　2.在測試母座(zuo)時(shi)(shi)，彈片頭部插入連(lian)接(jie)器內端子，使其產生一定的張開(kai)量(liang)，這樣能夠保(bao)障彈片接(jie)觸面(mian)與(yu)BTB連(lian)接(jie)器端子兩面(mian)不斷堅持接(jie)觸狀態；測試公座(zuo)時(shi)(shi)，鋸(ju)齒型彈片大面(mian)積充(chong)沛和連(lian)接(jie)器接(jie)觸點接(jie)觸，保(bao)障測試穩定；

　　3.電(dian)傳播導于同一資料體(ti)內，電(dian)阻恒定(ding)，簡直沒(mei)有(you)電(dian)流衰減，具有(you)更(geng)好的銜接功(gong)用(yong)，額定(ding)電(dian)流為3A；

　　4.由于一體成型，完整不會呈現卡pin現象，并且運用壽命能到(dao)達30萬次以上(shang)；

　　5.測試母座時，定(ding)制(zhi)的(de)斜口性彈(dan)片(pian)的(de)頭(tou)(tou)部插入BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)(jie)器內彈(dan)片(pian)啟齒之間，對BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)(jie)器彈(dan)片(pian)產生一(yi)定(ding)的(de)張(zhang)開量，微(wei)針模組彈(dan)片(pian)接(jie)(jie)(jie)觸面與BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)(jie)器彈(dan)片(pian)兩面不(bu)斷堅持接(jie)(jie)(jie)觸狀態(tai)，微(wei)針模組彈(dan)片(pian)頭(tou)(tou)型(xing)自(zi)清潔設計免維護保障長期穩定(ding)性；

　　6.一體式設計，準(zhun)確度高，完整不會呈現扎歪的(de)問題；

　　7.大電(dian)流BTB彈片微針模組的(de)測試良率能(neng)到達99.5%；

　　8.能更好(hao)的應對pitch≤0.2mm的范(fan)疇；

　　9.運用彈片(pian)微針模組(zu)（blade block）在(zai)同一模組(zu)，測(ce)試前和測(ce)試20次后(hou)，連接器上(shang)根(gen)本看不到任(ren)何扎痕；

　　針對(dui)市場上，企業(ye)運(yun)用pogopin一系列(lie)的(de)(de)問題，我(wo)們自主創新的(de)(de)大(da)電流BTB彈片微針模組(zu)（blade block）的(de)(de)處理(li)計劃能更好的(de)(de)應對(dui)，協助(zhu)企業(ye)儉(jian)省本(ben)錢。

　　相較于目(mu)前市場上(shang)的(de)痛點(dian)，大(da)電(dian)流彈片微針模組（blade block），一體成型的(de)彈片根(gen)卡pin、銜接穩(wen)定(ding)性差、斷針，接觸(chu)外形可定(ding)制化防(fang)止了產生接觸(chu)不(bu)穩(wen)定(ding)、阻(zu)抗分歧(qi)性低，能應對pitch≤0.2mm、測試效率高(gao)、穩(wen)定(ding)性高(gao)、能兼容小pitch BTB公母座(zuo)穩(wen)定(ding)且牢靠、能接受的(de)頂點(dian)為50A大(da)電(dian)流、運用(yong)壽命更長、快速出樣、訂貨周期短等優點(dian)。