關于(yu)BTB/FPC母(mu)座(zuo)connector測(ce)試(shi)，目前大部份的(de)企(qi)業、廠商采用輕觸(chu)(chu)計劃降(jiang)臨時應(ying)對；運用pogo pin的(de)廠商測(ce)試(shi)母(mu)座(zuo)時，只能(neng)接(jie)觸(chu)(chu)連接(jie)器端(duan)子頂(ding)點位置(zhi)，接(jie)觸(chu)(chu)區域面(mian)積小(xiao)，接(jie)觸(chu)(chu)方式為點對點，相對彈片接(jie)觸(chu)(chu)面(mian)小(xiao)，易(yi)磨(mo)損及運用次數到一定的(de)壽命后易(yi)接(jie)觸(chu)(chu)不良，招(zhao)致(zhi)誤測(ce)等現象。

　　pogopin是由(you)(you)彈簧(huang)、針管(guan)、針軸三個根本部件(jian)預壓(ya)之后構成的彈簧(huang)式(shi)探針；它自身由(you)(you)幾個部件(jian)制造、裝(zhuang)配、涂裝(zhuang)而成，工藝(yi)程序復雜，但運(yun)用壽命仍然不高(gao)；由(you)(you)于pogopin自身存在(zai)的一些問題，在(zai)實(shi)踐操(cao)作針對BTB母(mu)座connector測試時(shi)，我們理解到一些廠商的實(shi)踐狀況(kuang)：

　　1.測試不(bu)穩定，pogopin自身(shen)是多配(pei)件(jian)構造，接(jie)觸(chu)點多，易產生接(jie)觸(chu)不(bu)穩定、阻抗分歧性低等(deng)問題(ti)；

　　2.測試(shi)時探針經常(chang)性(xing)扎歪，然后需求人員(yuan)重新進(jin)行(xing)探針調整，糜費(fei)了(le)大量的時間和人工本錢；

　　3.卡PIN：同樣(yang)由于由多構造組合(he)而成，這個(ge)在pogopin身上是防止不了的問題；

　　4.極易斷針(zhen)：隨著(zhu)pitch的(de)減少，pogo的(de)針(zhen)徑也越來越小，使得(de)探針(zhen)的(de)斷針(zhen)風險逐(zhu)步(bu)增加；

　　5.運(yun)用(yong)壽(shou)(shou)命(ming)很短：探針的運(yun)用(yong)壽(shou)(shou)命(ming)均在30000次以(yi)下，并容易磨損，運(yun)用(yong)次數(shu)到一定的壽(shou)(shou)命(ming)后易招致(zhi)接觸(chu)不良、誤測(ce)等現象；

　　以上狀(zhuang)況相對呈現(xian)率(lv)較高(gao)，針對以上的狀(zhuang)況，自然(ran)導致企業本錢的增加(jia)，測試(shi)穩定性差，良品率(lv)低等問題(ti)。

　　針對以上運用pogo測(ce)試BTB母(mu)座connector，下面簡單引見幾個(ge)方面：

　　1.彈(dan)片微針模組有一體(ti)成型，后期(qi)加硬鍍金(jin)處(chu)置(zhi)，接觸外形(xing)（可定制化）很容(rong)易(yi)依照客戶請(qing)求(qiu)制造(zao)；彈(dan)片為一體(ti)化構(gou)造(zao)，減少(shao)了接觸點，防(fang)止產生接觸不穩(wen)定、阻抗分歧(qi)性低(di)等問題；

　　2.在測(ce)試(shi)(shi)母座(zuo)時(shi)，彈片頭部插入連(lian)接(jie)(jie)(jie)器內端子，使其產生一(yi)定的(de)張(zhang)開量，這樣能夠保障(zhang)彈片接(jie)(jie)(jie)觸(chu)面(mian)與BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器端子兩面(mian)不斷堅持接(jie)(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai)；測(ce)試(shi)(shi)公座(zuo)時(shi)，鋸齒型彈片大(da)面(mian)積(ji)充沛(pei)和連(lian)接(jie)(jie)(jie)器接(jie)(jie)(jie)觸(chu)點接(jie)(jie)(jie)觸(chu)，保障(zhang)測(ce)試(shi)(shi)穩定；

　　3.電(dian)傳播導于同(tong)一資料體內(nei)，電(dian)阻恒(heng)定，簡直沒(mei)有電(dian)流(liu)衰減(jian)，具有更(geng)好(hao)的銜接(jie)功用，額定電(dian)流(liu)為3A；

　　4.由于(yu)一體(ti)成型，完整不會呈現卡pin現象，并且(qie)運用壽命能到(dao)達(da)30萬次(ci)以上；

　　5.測試(shi)母座時(shi)，定(ding)(ding)制的斜口(kou)性彈(dan)片(pian)(pian)的頭(tou)(tou)部插(cha)入BTB連接(jie)器(qi)內彈(dan)片(pian)(pian)啟齒之間，對BTB連接(jie)器(qi)彈(dan)片(pian)(pian)產(chan)生一定(ding)(ding)的張開量，微(wei)針(zhen)模(mo)組彈(dan)片(pian)(pian)接(jie)觸面與(yu)BTB連接(jie)器(qi)彈(dan)片(pian)(pian)兩(liang)面不斷堅持接(jie)觸狀態，微(wei)針(zhen)模(mo)組彈(dan)片(pian)(pian)頭(tou)(tou)型自清潔(jie)設計免維護(hu)保障長期穩定(ding)(ding)性；

　　6.一體式設計，準確度高，完整不(bu)會(hui)呈現扎歪(wai)的問題；

　　7.大電流BTB彈片(pian)微針(zhen)模組的測試(shi)良率能到(dao)達(da)99.5%；

　　8.能更好(hao)的應(ying)對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片(pian)微針模組（blade block）在(zai)同(tong)一(yi)模組，測試前和(he)測試20次(ci)后，連接器(qi)上根本看不到(dao)任何扎痕；

　　針對(dui)市場上，企(qi)業(ye)運用pogopin一系(xi)列的(de)問題，我們(men)自主創(chuang)新的(de)大電(dian)流BTB彈(dan)片微針模組(zu)（blade block）的(de)處(chu)理(li)計劃(hua)能更好的(de)應對(dui)，協助(zhu)企(qi)業(ye)儉省本錢。

　　相較于目(mu)前(qian)市場(chang)上的痛點，大電流彈片微針模(mo)組（blade block），一體成(cheng)型的彈片根(gen)卡(ka)pin、銜(xian)接穩(wen)定(ding)性差(cha)、斷針，接觸(chu)外形(xing)可定(ding)制化防止了產生(sheng)接觸(chu)不穩(wen)定(ding)、阻抗分歧性低，能(neng)應對(dui)pitch≤0.2mm、測試效率(lv)高、穩(wen)定(ding)性高、能(neng)兼容小pitch BTB公母座穩(wen)定(ding)且牢(lao)靠、能(neng)接受的頂點為50A大電流、運(yun)用(yong)壽(shou)命更長、快速(su)出(chu)樣、訂貨周期短(duan)等優(you)點。