關于(yu)BTB/FPC母(mu)座(zuo)connector測試(shi)，目(mu)前大部份的企業、廠商采用(yong)輕觸(chu)(chu)計劃(hua)降臨(lin)時應對(dui)；運用(yong)pogo pin的廠商測試(shi)母(mu)座(zuo)時，只能接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)連接(jie)(jie)(jie)器端子頂點(dian)位置，接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)區域(yu)面積小，接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)方(fang)式為點(dian)對(dui)點(dian)，相對(dui)彈片接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)面小，易(yi)磨損及(ji)運用(yong)次(ci)數到一定的壽命后易(yi)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)不良，招(zhao)致誤(wu)測等現象。

　　pogopin是由(you)(you)彈(dan)簧、針管(guan)、針軸三個根本部件預(yu)壓之后(hou)構(gou)成的(de)彈(dan)簧式探針；它自身由(you)(you)幾個部件制造、裝配、涂(tu)裝而成，工藝程序復雜，但(dan)運用壽命仍然不(bu)高；由(you)(you)于(yu)pogopin自身存在的(de)一(yi)些問題，在實踐(jian)(jian)操作針對BTB母(mu)座(zuo)connector測(ce)試時，我們理解到一(yi)些廠商(shang)的(de)實踐(jian)(jian)狀況：

　　1.測(ce)試不(bu)穩(wen)(wen)定(ding)，pogopin自身是多(duo)配件構造，接觸點多(duo)，易(yi)產生接觸不(bu)穩(wen)(wen)定(ding)、阻抗分歧性低(di)等(deng)問題；

　　2.測試時(shi)探針經(jing)常(chang)性(xing)扎歪，然(ran)后需(xu)求人員重新進行(xing)探針調整，糜(mi)費了大量的時(shi)間和人工(gong)本錢；

　　3.卡(ka)PIN：同樣由(you)于由(you)多構造組合而成，這個在pogopin身(shen)上是防止不了的(de)問題；

　　4.極易斷針(zhen)：隨著pitch的減少，pogo的針(zhen)徑也越來越小(xiao)，使得(de)探(tan)針(zhen)的斷針(zhen)風(feng)險逐步增加；

　　5.運用壽(shou)命(ming)(ming)很短：探針的(de)運用壽(shou)命(ming)(ming)均在30000次以下(xia)，并容易磨損，運用次數到一定的(de)壽(shou)命(ming)(ming)后易招致(zhi)接觸不良、誤測等現象；

　　以上狀(zhuang)況(kuang)相對呈現率(lv)較高，針對以上的(de)狀(zhuang)況(kuang)，自(zi)然導致(zhi)企業本(ben)錢(qian)的(de)增(zeng)加，測試穩(wen)定性(xing)差，良品率(lv)低等問題。

　　針對以上運用(yong)pogo測試BTB母座connector，下面簡(jian)單引見幾個方面：

　　1.彈片微針模組有一體(ti)成型，后期加(jia)硬鍍金處置，接(jie)觸(chu)外(wai)形（可(ke)定制化(hua)）很(hen)容易依照客戶(hu)請求(qiu)制造；彈片為一體(ti)化(hua)構造，減少了接(jie)觸(chu)點，防止(zhi)產生接(jie)觸(chu)不(bu)穩定、阻(zu)抗(kang)分歧(qi)性低等問題；

　　2.在測(ce)試母座時，彈片(pian)(pian)頭部(bu)插入(ru)連(lian)接(jie)器內端(duan)子，使其產生(sheng)一定的(de)張開量，這樣能夠保障(zhang)彈片(pian)(pian)接(jie)觸(chu)(chu)面與(yu)BTB連(lian)接(jie)器端(duan)子兩面不斷堅(jian)持接(jie)觸(chu)(chu)狀態(tai)；測(ce)試公座時，鋸齒型彈片(pian)(pian)大(da)面積充(chong)沛和連(lian)接(jie)器接(jie)觸(chu)(chu)點接(jie)觸(chu)(chu)，保障(zhang)測(ce)試穩定；

　　3.電(dian)(dian)傳播導于同一資料體內，電(dian)(dian)阻恒定，簡直沒有電(dian)(dian)流衰減，具有更好的銜接功用(yong)，額定電(dian)(dian)流為(wei)3A；

　　4.由(you)于一體成型(xing)，完(wan)整(zheng)不會呈(cheng)現(xian)卡(ka)pin現(xian)象，并且運(yun)用壽(shou)命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試母座時，定制的(de)斜口性(xing)彈(dan)片(pian)的(de)頭(tou)(tou)部插入BTB連接(jie)器內彈(dan)片(pian)啟齒之間，對BTB連接(jie)器彈(dan)片(pian)產生一定的(de)張開(kai)量(liang)，微針(zhen)模(mo)組(zu)彈(dan)片(pian)接(jie)觸面(mian)與(yu)BTB連接(jie)器彈(dan)片(pian)兩面(mian)不(bu)斷(duan)堅(jian)持接(jie)觸狀態(tai)，微針(zhen)模(mo)組(zu)彈(dan)片(pian)頭(tou)(tou)型自清(qing)潔設計免維護保障長期(qi)穩(wen)定性(xing)；

　　6.一(yi)體式(shi)設計，準確度高，完整(zheng)不會呈現扎歪的(de)問(wen)題；

　　7.大電流(liu)BTB彈片微針模(mo)組(zu)的測試良(liang)率能到(dao)達99.5%；

　　8.能更好的(de)(de)應對pitch≤0.2mm的(de)(de)范疇(chou)；

　　9.運用彈片(pian)微針模(mo)(mo)組（blade block）在同一模(mo)(mo)組，測試前(qian)和測試20次后，連接器上(shang)根本看(kan)不到任何扎痕；

　　針對(dui)市場上，企業運用pogopin一(yi)系(xi)列的問題，我(wo)們自(zi)主創新的大電(dian)流BTB彈片微針模組(zu)（blade block）的處理計劃(hua)能更好的應對(dui)，協助企業儉(jian)省本錢(qian)。

　　相較于目前(qian)市場上(shang)的(de)痛(tong)點，大電(dian)流彈(dan)片(pian)微針模組（blade block），一(yi)體成(cheng)型的(de)彈(dan)片(pian)根卡pin、銜(xian)接穩定(ding)(ding)性(xing)(xing)差、斷針，接觸外形可定(ding)(ding)制化防止了產生(sheng)接觸不(bu)穩定(ding)(ding)、阻抗(kang)分歧性(xing)(xing)低，能應對pitch≤0.2mm、測試(shi)效率高、穩定(ding)(ding)性(xing)(xing)高、能兼容小pitch BTB公母座穩定(ding)(ding)且牢靠、能接受的(de)頂點為50A大電(dian)流、運用壽命更長、快速出樣(yang)、訂(ding)貨周(zhou)期短等優點。