關于BTB/FPC母座(zuo)(zuo)connector測(ce)(ce)試，目(mu)前大部份(fen)的企業、廠(chang)(chang)商(shang)采用(yong)(yong)輕觸計(ji)劃降(jiang)臨(lin)時應對；運用(yong)(yong)pogo pin的廠(chang)(chang)商(shang)測(ce)(ce)試母座(zuo)(zuo)時，只能(neng)接(jie)(jie)(jie)觸連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)端(duan)子頂點(dian)位(wei)置，接(jie)(jie)(jie)觸區域面(mian)積(ji)小，接(jie)(jie)(jie)觸方(fang)式為(wei)點(dian)對點(dian)，相對彈片接(jie)(jie)(jie)觸面(mian)小，易磨損及運用(yong)(yong)次數到一定的壽命后易接(jie)(jie)(jie)觸不良，招(zhao)致誤(wu)測(ce)(ce)等現象(xiang)。

　　pogopin是(shi)由(you)彈簧(huang)、針管、針軸三個根本部(bu)件(jian)預壓之后構成的(de)彈簧(huang)式探針；它自身(shen)由(you)幾個部(bu)件(jian)制造、裝配、涂(tu)裝而(er)成，工藝(yi)程(cheng)序(xu)復雜，但運用壽命(ming)仍(reng)然不高；由(you)于pogopin自身(shen)存在的(de)一(yi)些問題，在實踐操作針對BTB母座(zuo)connector測(ce)試時，我們(men)理解到一(yi)些廠(chang)商(shang)的(de)實踐狀況：

　　1.測試不穩定，pogopin自(zi)身是(shi)多配件(jian)構造，接(jie)觸點多，易產生接(jie)觸不穩定、阻抗(kang)分歧(qi)性(xing)低等問題；

　　2.測試(shi)時(shi)探針經常性扎歪，然后(hou)需求人員重新(xin)進行探針調整(zheng)，糜費了(le)大量的(de)時(shi)間和(he)人工本錢；

　　3.卡(ka)PIN：同(tong)樣由于由多(duo)構(gou)造組合而成，這個在pogopin身上是防止(zhi)不了的問(wen)題；

　　4.極易斷針(zhen)(zhen)：隨(sui)著pitch的(de)減少，pogo的(de)針(zhen)(zhen)徑也越來越小(xiao)，使得探針(zhen)(zhen)的(de)斷針(zhen)(zhen)風險逐步增(zeng)加；

　　5.運(yun)用(yong)壽命很短：探針的運(yun)用(yong)壽命均在30000次以下(xia)，并容(rong)易磨損，運(yun)用(yong)次數到一定的壽命后易招致接觸不(bu)良、誤(wu)測等現象；

　　以上狀況(kuang)相對呈現(xian)率較高(gao)，針對以上的(de)狀況(kuang)，自然導致企(qi)業本錢的(de)增(zeng)加，測(ce)試(shi)穩定性差，良品率低等問(wen)題。

　　針對以上運用pogo測試BTB母座connector，下面簡單引見(jian)幾個方面：

　　1.彈(dan)片微針模組(zu)有一(yi)體(ti)成(cheng)型，后期(qi)加(jia)硬鍍金處置，接觸外(wai)形（可定制化(hua)）很容易依照(zhao)客(ke)戶請求(qiu)制造；彈(dan)片為一(yi)體(ti)化(hua)構(gou)造，減少了接觸點，防止(zhi)產生接觸不(bu)穩(wen)定、阻抗(kang)分歧(qi)性低等問(wen)題；

　　2.在(zai)測(ce)試(shi)母座時，彈片(pian)頭部插入連接(jie)(jie)器(qi)(qi)內端(duan)子，使其產生一定的張開(kai)量(liang)，這樣能夠保(bao)障彈片(pian)接(jie)(jie)觸面(mian)與(yu)BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)端(duan)子兩面(mian)不(bu)斷堅持接(jie)(jie)觸狀態；測(ce)試(shi)公座時，鋸齒型彈片(pian)大面(mian)積充沛(pei)和連接(jie)(jie)器(qi)(qi)接(jie)(jie)觸點(dian)接(jie)(jie)觸，保(bao)障測(ce)試(shi)穩定；

　　3.電(dian)傳播導(dao)于同一資料體內，電(dian)阻恒定(ding)，簡直沒有電(dian)流(liu)衰減，具有更好的(de)銜接(jie)功用，額定(ding)電(dian)流(liu)為(wei)3A；

　　4.由于一(yi)體成型，完整(zheng)不會呈現(xian)卡pin現(xian)象，并且運用壽命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試母座(zuo)時，定(ding)制的(de)斜(xie)口性彈片(pian)的(de)頭部插入BTB連接(jie)器(qi)內彈片(pian)啟齒之間(jian)，對BTB連接(jie)器(qi)彈片(pian)產生一定(ding)的(de)張開(kai)量，微針模組(zu)彈片(pian)接(jie)觸面與BTB連接(jie)器(qi)彈片(pian)兩面不斷堅持接(jie)觸狀態，微針模組(zu)彈片(pian)頭型自清(qing)潔設計免(mian)維(wei)護保障長期穩定(ding)性；

　　6.一(yi)體式設(she)計，準(zhun)確(que)度高(gao)，完整不(bu)會呈現扎歪的問題；

　　7.大電流(liu)BTB彈片微針模組(zu)的測試良(liang)率(lv)能到(dao)達99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范疇(chou)；

　　9.運用彈片(pian)微(wei)針模(mo)組（blade block）在同一模(mo)組，測(ce)試前和測(ce)試20次后，連接(jie)器上根本看(kan)不到任何(he)扎(zha)痕；

　　針(zhen)對市場上，企業(ye)運用pogopin一系列的問(wen)題，我們自主(zhu)創(chuang)新(xin)的大電流BTB彈(dan)片微針(zhen)模組（blade block）的處理計劃(hua)能更好(hao)的應對，協助企業(ye)儉省本錢。

　　相較(jiao)于目(mu)前市場(chang)上的(de)痛點(dian)，大電流(liu)彈(dan)片微針模組（blade block），一體成型的(de)彈(dan)片根卡pin、銜(xian)接穩定(ding)(ding)(ding)性差、斷針，接觸外形可(ke)定(ding)(ding)(ding)制化(hua)防(fang)止(zhi)了產生接觸不穩定(ding)(ding)(ding)、阻抗分歧性低(di)，能應(ying)對pitch≤0.2mm、測(ce)試效率(lv)高、穩定(ding)(ding)(ding)性高、能兼容小pitch BTB公母座穩定(ding)(ding)(ding)且牢(lao)靠、能接受的(de)頂點(dian)為50A大電流(liu)、運用壽命更長、快(kuai)速出樣(yang)、訂貨周(zhou)期短等優點(dian)。