關于BTB/FPC母座(zuo)connector測試，目前大部份的企業、廠(chang)商(shang)采用(yong)輕觸計劃降臨時(shi)應對(dui)；運用(yong)pogo pin的廠(chang)商(shang)測試母座(zuo)時(shi)，只(zhi)能(neng)接(jie)觸連接(jie)器端子頂(ding)點(dian)(dian)位(wei)置，接(jie)觸區(qu)域(yu)面積(ji)小，接(jie)觸方式為點(dian)(dian)對(dui)點(dian)(dian)，相對(dui)彈片接(jie)觸面小，易(yi)磨(mo)損及運用(yong)次數到(dao)一定的壽命后易(yi)接(jie)觸不良，招致誤(wu)測等現象。

　　pogopin是由(you)彈簧、針管、針軸(zhou)三個根本(ben)部件(jian)預(yu)壓之(zhi)后構(gou)成的彈簧式探針；它自(zi)身由(you)幾(ji)個部件(jian)制(zhi)造、裝(zhuang)配、涂裝(zhuang)而成，工藝(yi)程序復雜(za)，但運用壽命仍(reng)然不高(gao)；由(you)于(yu)pogopin自(zi)身存在(zai)的一(yi)些(xie)問(wen)題(ti)，在(zai)實(shi)踐操作(zuo)針對BTB母座connector測試時，我們(men)理解到(dao)一(yi)些(xie)廠商的實(shi)踐狀況：

　　1.測試不(bu)穩定，pogopin自身是多(duo)配(pei)件構造，接(jie)觸點多(duo)，易產生接(jie)觸不(bu)穩定、阻抗(kang)分歧性(xing)低等(deng)問題；

　　2.測試時探針(zhen)經常性扎(zha)歪，然后需求(qiu)人員(yuan)重(zhong)新進行探針(zhen)調整，糜(mi)費了(le)大量的(de)時間和人工本錢；

　　3.卡PIN：同樣(yang)由于由多構造(zao)組合(he)而成，這(zhe)個在(zai)pogopin身上是防止不了的問題；

　　4.極易斷針：隨(sui)著pitch的減少(shao)，pogo的針徑也越(yue)來越(yue)小，使得(de)探針的斷針風險逐步(bu)增(zeng)加；

　　5.運用壽(shou)命很短：探(tan)針的(de)運用壽(shou)命均(jun)在30000次(ci)以(yi)下，并容易(yi)磨(mo)損，運用次(ci)數(shu)到(dao)一定的(de)壽(shou)命后易(yi)招(zhao)致接觸不良(liang)、誤測(ce)等現(xian)象；

　　以(yi)上狀(zhuang)(zhuang)況(kuang)相對呈現率較高，針對以(yi)上的(de)狀(zhuang)(zhuang)況(kuang)，自然導致(zhi)企業本錢(qian)的(de)增加，測試穩定(ding)性差，良品率低(di)等問題。

　　針對以上運用pogo測(ce)試(shi)BTB母座connector，下面(mian)簡(jian)單(dan)引見幾個方面(mian)：

　　1.彈片微針模組有一體(ti)(ti)成型，后期加硬鍍金處置，接觸(chu)外形（可定制化）很容易依照客(ke)戶請求制造；彈片為一體(ti)(ti)化構造，減少了接觸(chu)點(dian)，防止產生(sheng)接觸(chu)不穩定、阻抗分歧性低等問(wen)題；

　　2.在測(ce)試母座時，彈片(pian)頭(tou)部插(cha)入連接器(qi)內端子，使其產生一定(ding)的(de)張(zhang)開(kai)量，這樣能夠保障彈片(pian)接觸面與BTB連接器(qi)端子兩面不斷堅持(chi)接觸狀態(tai)；測(ce)試公座時，鋸齒型彈片(pian)大(da)面積(ji)充沛和連接器(qi)接觸點(dian)接觸，保障測(ce)試穩定(ding)；

　　3.電(dian)傳播導于同一資料體(ti)內，電(dian)阻恒定，簡直(zhi)沒有電(dian)流衰減(jian)，具有更好(hao)的銜接(jie)功(gong)用，額(e)定電(dian)流為(wei)3A；

　　4.由于一體成(cheng)型，完(wan)整不(bu)會(hui)呈現卡(ka)pin現象，并且運用(yong)壽命能到(dao)達30萬次以上；

　　5.測試(shi)母(mu)座時，定制的斜(xie)口性彈片(pian)的頭(tou)部插入BTB連接器內(nei)彈片(pian)啟齒之間(jian)，對BTB連接器彈片(pian)產生一定的張開(kai)量，微(wei)針模組彈片(pian)接觸面(mian)與BTB連接器彈片(pian)兩面(mian)不斷堅持接觸狀態(tai)，微(wei)針模組彈片(pian)頭(tou)型自清潔設計免(mian)維護保(bao)障長期(qi)穩定性；

　　6.一體式設計，準確度高，完整(zheng)不會呈現(xian)扎歪的問題；

　　7.大電(dian)流BTB彈片微針(zhen)模組的測試良率(lv)能到(dao)達99.5%；

　　8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈(dan)片微(wei)針模組（blade block）在同一模組，測試前和(he)測試20次后，連接器(qi)上根本(ben)看不到任何(he)扎痕；

　　針(zhen)對(dui)市場(chang)上(shang)，企(qi)業運用pogopin一(yi)系列的(de)(de)問題，我(wo)們自主創(chuang)新的(de)(de)大電(dian)流BTB彈片微針(zhen)模組(zu)（blade block）的(de)(de)處(chu)理計劃(hua)能更好的(de)(de)應(ying)對(dui)，協助企(qi)業儉省本錢。

　　相較于目前市場上的(de)痛點，大電流彈片微針(zhen)模組（blade block），一體成型的(de)彈片根(gen)卡pin、銜接穩定(ding)(ding)(ding)性差、斷針(zhen)，接觸(chu)外形可定(ding)(ding)(ding)制化防止了產生接觸(chu)不(bu)穩定(ding)(ding)(ding)、阻抗(kang)分(fen)歧性低，能應對(dui)pitch≤0.2mm、測試(shi)效率高(gao)、穩定(ding)(ding)(ding)性高(gao)、能兼容小pitch BTB公(gong)母(mu)座穩定(ding)(ding)(ding)且牢靠、能接受的(de)頂點為50A大電流、運用壽命更長、快速出(chu)樣、訂貨周期短等優點。